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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 6$H`wDh#(&  
    RW<4",  
    任务/系统说明 UMK9[Iy$<M  
    Bc'Mj=>;  
    PlwM3lrj  
    i*T -9IP  
    亮点 ^-"tK:{  
    SErh"~[  
    ~ ^fb`f+%  
    tY#Zl 54~{  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) yqP=6   
     严格分析光栅衍射效率 lWUQkS  
     考虑入射光的方向分布 _.I58r  
    =JxEM7r  
    说明:光源 G7r.Jm^q  
    $Xqc'4YOZ  
    X(Z(cY(  
    lcVG<*gf-  
    说明:光束分束器 9I''$DVf  
    ~6+>2|wIS  
    {4)d  
    i9T<(sdK+  
    说明:检测透镜系统 {e0(M*u  
    $Z8riVJ7j-  
    ^UFNds'q  
    .9UrWBW\I  
    说明:微型晶片 gu&W:FY  
    aq#F  
    #+$ PD`j  
    3EE_"}H>  
    说明:检测物镜 e7plL^^`  
    FRXaPod  
    w}e_ 17A  
    D$E#:[  
    说明:探测器 Zqb*-1Qw"*  
    MeAY\V%G=o  
    q(Ow:3&  
    qq@]xdl  
    结果:3D光线追迹(只有0级) &>G8DvfJ9  
    9_ ~9?5PU  
     i(V  
    n'%cO]nSx  
    结果:3D光线追迹(所有级) 9WV8ZP  
    hf;S#.k  
    sejT] rJ  
    kYR ^  
    结果:光线追迹 ,$RXN8x1  
    (0rcLNk{|  
    8<@X=Z  
    C 'S_M@I=  
    结果:场追迹 ;Zn&Nc7  
    EYi{~  
    y. (m#&T  
    U /xzl4m6  
    结果:线性偏振光的场追迹 :Y4Sdj  
    Mky^X,r  
    K cW 5  
    fuWAw^&  
    文档和技术信息 u`Kc\B Sn  
    S"`{ JCW$  
    ~RZN+N  
    I*/:rb  
    Ds{bYK_y  
    QQ:2987619807 <vu~EY0.  
     
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