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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 $joGda  
    y= f.;  
    任务/系统说明 u9~Ncz  
    5lP8#O?=  
    ss}-YnG  
    .|g@#XIwe#  
    亮点 NB'G{),)Z  
    D]aQt%TL  
    Bw!J!cCj  
    IA Ma  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) s5+;8u9K  
     严格分析光栅衍射效率 @4Bl&(3S  
     考虑入射光的方向分布 @M-Q|  
    `MCtm(<  
    说明:光源 ,X:3w3nr^  
    I+.U.e^gx  
    qUmSB"#Z  
    ^z{Xd|{"  
    说明:光束分束器 tWzBQx   
    Vj1V;dHv  
    7G;1n0m-T  
    dMsS OP0E  
    说明:检测透镜系统 iHc(e(CB<  
    ^'tT_ gT  
    dZf1iFCP  
    KaOXqFT=  
    说明:微型晶片 fK]%*i_"  
    +aM[!pW(e  
    7BwR ].  
    pCo3%(  
    说明:检测物镜 )6X-m9.X  
    A Y<L8  
    bo<.pK$  
    !s/qqq:g  
    说明:探测器 L>g6 9D !  
    )CE]s)6+2  
    5bXpj86mY  
    LH+Bu%s  
    结果:3D光线追迹(只有0级) >?ar  
    L >"O[@  
    }|) N5bGQe  
    -Q5UT=^  
    结果:3D光线追迹(所有级) SDSP4W5  
    s?S e]?i  
    2-ksr}:  
    Wtk|}>Pf  
    结果:光线追迹 YryMB,\  
    {: _*P TVk  
    J"GsdLG.-  
    5izpQ'>  
    结果:场追迹 j1->w8  
    -}sMOy`  
    xZ%3e sp  
    X@Zt4)2#  
    结果:线性偏振光的场追迹 %x@bP6d[  
    3_boEYl0  
    *\}$,/m['  
    ht6}v<x.eA  
    文档和技术信息 /g9^g(  
    FYE(lEjxi  
    NYg&8s.  
    nm%qm  
    lf KV%  
    QQ:2987619807 _7;G$\^&.  
     
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