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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 6(4d3}F  
    ^V96l Kt/  
    任务/系统说明 ty pbwfM]  
    zhFm2  
     fPPP|  
    |b.xG_-s1  
    亮点 ^ W?cuJ8  
    NM![WvtjW  
    ?&~q^t?u  
    Kob,}NgqZ  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA))  sTlel&  
     严格分析光栅衍射效率 -YKy"   
     考虑入射光的方向分布 ~qGW9 4  
    oR=i5lAU  
    说明:光源 wL 4Y%g  
    ZqVbNIY   
    }>u `8'2v  
    u%)gnj_  
    说明:光束分束器 wLXJ?iy3  
    {.{Wl,|7  
    e:9EP,  
    NSB6 2  
    说明:检测透镜系统 PLc5m5  
    f;zNNx< ;  
    7 D#y  
    bhpku=ov  
    说明:微型晶片 CPP~,E_  
    cZ?QI6|[  
    =xI'|%  
    lZcNio  
    说明:检测物镜 vv @m{,7#Y  
    -y+>^45  
    "+"=iwEAz  
    ilL0=[2  
    说明:探测器 FI$:R  
    x.?5-3|d$  
    |/*Pimk  
    Mn.,?IF`K  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Yv;s3>r  
    Nujnm$!,Q  
    5G* cAlU  
    /9w>:i81  
    结果:3D光线追迹(所有级) *Y m? gCig  
    8vY-bm,e  
    az(<<2=  
    ~f1g"   
    结果:光线追迹 %t9C  
    'x!\pE-  
    x%G3L\ 5  
    9oWU]A\k>  
    结果:场追迹 |W">&Rb<t#  
    'YNaLZ20  
    XIHN6aQ{X  
    :gh[BeqQ)  
    结果:线性偏振光的场追迹 X W)TI  
    IHl q27O  
     P#,u9EIJ  
    eU?hin@X  
    文档和技术信息 Jg6Lr~!i  
    1uw#;3<L  
    \N>-+r  
    E$e7(D  
    l]nt@0+  
    QQ:2987619807 }'X=&3m  
     
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