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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 l;F3kA  
    gKn"e|A  
    任务/系统说明 JX`+b  
    OAR#* ~q  
    IGOqV>;  
    s?7g3H5#0k  
    亮点 IbF[nQ  
    Z &/b p1  
    _{C:aIl[2  
    ixE72bX  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) /i"L@t)\t  
     严格分析光栅衍射效率 Y!Wz7 C  
     考虑入射光的方向分布 oCXBek?\  
    9ZeTS~i  
    说明:光源 7M=`Z{=9  
    ]'EtLFv)  
    W;eHDQ|  
    Y u8a8p|  
    说明:光束分束器 T&fqn!i  
    XGbtmmQG  
     Fp'k{  
    ?8)_,  
    说明:检测透镜系统 xQ-]Iw5  
    oV&AJ=|\  
    7=aF-;X3jj  
    K8ecSs}}J  
    说明:微型晶片 .FtW $Y~y  
    5BN!uUkm+  
    <A;R%\V  
    aP>%iRk'J!  
    说明:检测物镜 -;Y*;xe  
    WIa4!\Ky!  
    ^Z$%OM,  
    )k.;.7dXe  
    说明:探测器 %J5zfNe)&  
    KtG|m'\D  
    nNSq6 Cj  
    \/xWsbG\  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Pe EC|&x  
    Pe6MDWR  
    U^-:qT;CX  
    4@&8jZ)a  
    结果:3D光线追迹(所有级) E=_M=5]  
    1 `hj]@.]  
    jSsbLa@  
    CE=&ZHt9  
    结果:光线追迹 }S\\"SBC  
    -R?~Yysd7K  
    Gc^w,n[E  
    PO%Z.ol9  
    结果:场追迹 zYvf}L&]h  
    O-[lL"T  
    F4xYfbwY"]  
    R4.$9_ ui  
    结果:线性偏振光的场追迹 'vq-~y5^#  
    6",S$3q  
    66NJ&ac  
    {*RyT.J  
    文档和技术信息 :G=N|3  
    u 0(H!  
    oKLL~X>!U  
    Rf||(KC<  
    52 ? TLID  
    QQ:2987619807 5V;BimI  
     
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