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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 =O qw`jw  
    _,h hO  
    任务/系统说明 OzFA>FK0f;  
    f IUz%YFn  
    rPV\ F  
    JrF\7*rh9  
    亮点 :*wnO;eN  
    Kt,ENbF  
    q? x.P2  
    zwAkXj  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) } k[gR I]  
     严格分析光栅衍射效率 zOR  
     考虑入射光的方向分布 r)jj]$0  
    Bc {#ia  
    说明:光源 90%alG 1>y  
    8oI)q4V  
    `TBI{q[y  
    9JHu{r"M  
    说明:光束分束器 P)?)H]J"  
    . bh>_ W_h  
    6x*u S~'  
    sjLI^#a  
    说明:检测透镜系统 :@6,|2b e=  
    `[JX}<~i  
    ;!(.hCHvr  
    }.<%46_Z-  
    说明:微型晶片 4_3 DQx9s  
    W&[}-E8<Y  
    56Q9RU(M  
    @g*=xwve=~  
    说明:检测物镜 q9j9"M'  
    m/"\+Hv  
    !BHIp7p  
    hB#z8D  
    说明:探测器 .7-Yu1{2  
    EM+_c)d}  
    0z g\thL  
    [@@Ovv  
    结果:3D光线追迹(只有0级) %(`4wo},  
    gIR{!'  
    CErkmod{}e  
    pA9:1*+;;  
    结果:3D光线追迹(所有级) #`6A}/@.+  
    XDvT#(Pu  
    ^F<[5e)M  
    1MdVWFKXV  
    结果:光线追迹 YX+Da"\  
    [{F8+a^  
    36D-J)-Z  
    Z']D8>d  
    结果:场追迹 wVD-}n1"  
    dB7E&"f  
    ?^9TtxM  
    FAAqdK0  
    结果:线性偏振光的场追迹 C[:Q?LE  
    S5ofe]tS@  
    zV {[0s  
    rt5UT~  
    文档和技术信息 Lxm1.TOJ  
    #`5 M( o  
    $l:?(&u  
    xq',pzN  
    : 0Nd4hA  
    QQ:2987619807 Ue|]M36  
     
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