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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 5=Il2  
    ?u>A2Vc!  
    任务/系统说明 l:*.0Tj  
    7n7UL0Oc1  
    i93^E~q]  
    EZ[e  a<  
    亮点 KebC$g@W  
    ,8o Y(h  
    "] ]aF1  
    o\X|\nUk  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) d 9]zB-A  
     严格分析光栅衍射效率 ;)z+dd#3  
     考虑入射光的方向分布 *d:$vaL  
    HqXS-TG  
    说明:光源 iUlSRfrC$#  
    (3&P8ZGNR  
    =g?k`v p  
    EP{/]T  
    说明:光束分束器 !:a^f2^=  
    Z<#h$XUA  
    VYkUUp  
    bT`et*]  
    说明:检测透镜系统 cG{  
    ,,;vG6^a  
    2:&L|;  
    :A5h<=[  
    说明:微型晶片 uG(XbDZZ1W  
    o@ @|4 F  
    ;<#=|eD2  
    !UHX? <3r  
    说明:检测物镜 Tj6kCB  
    XQZiJ %'  
    Y^eF(  
    p MR4]G  
    说明:探测器 C)ic;!$Qhb  
    X?Or.  
    f |NXibmP  
    5 Q,j+  
    结果:3D光线追迹(只有0级) oE)xL%*  
    @ X5#?  
    oiQ:&$y  
    DS;.)P"  
    结果:3D光线追迹(所有级) u56F;y  
    qUk-BG8^  
    UQjYWXvi  
    bSa]={}L(  
    结果:光线追迹 l0eh}d  
    [Xww`OUsh  
    zEDN^K '  
    9[h8Dy  
    结果:场追迹 3|D.r-Q  
    1z_1Hl  
    ~|{_Go{ Q  
    a0 's6C  
    结果:线性偏振光的场追迹 ysFp$!9Ux  
    l7 U<]i GL  
    =.qPjp_Qd  
    qyjVB/ko  
    文档和技术信息 zIr4!|X  
    Bnw^W _  
    ,r;E[k@  
    kb!W|l"PN  
    7Ac.^rv5  
    QQ:2987619807 r|y\FL  
     
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