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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 .0ExHcr  
    a]%>7yr4  
    任务/系统说明 ]R7zvcu&  
    7w8I6  
    &LM ^,xx}  
    snccDuS  
    亮点 LE>b_gQ$ 2  
     1(*Pa  
    XL2iK)A  
    oH vVZ  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) h}@)oSX }  
     严格分析光栅衍射效率 se,0Rvkt  
     考虑入射光的方向分布 [;*Vm0>t  
    DAHQ7#qfQC  
    说明:光源 .C7;T'>!  
    LI/;`Y=  
     uZA^o  
    [7|j:!  
    说明:光束分束器 A\S1{JrR  
    *]]C.t-cd  
    @ApX43U(  
    JAA{5@ST  
    说明:检测透镜系统 $Afw]F$  
    .dStV6  
    L^Q q[>  
    b( qO fek  
    说明:微型晶片 `*to( )  
    H;(|&Asq>  
    g\O&gNq<)-  
    xM6v0Ua  
    说明:检测物镜 YR$ )yl  
    Js( "H  
    <Z6tRf;B  
    5[{#/!LX)  
    说明:探测器 sHwn,4|iY  
    y!;PBsU%Sx  
    C"=^ (HU  
    %C^%Oq_k  
    结果:3D光线追迹(只有0级) qp6*v&  
    b5v6Y:f&fK  
    $4j$c|S!  
    Es~|:$(N]|  
    结果:3D光线追迹(所有级) G',*"mZQ[  
    Q:#Kt@W  
    h)746T )  
    (3;dtp>Xx  
    结果:光线追迹 n!*uv~%$  
    7?O~3  
    uv,_?x\'  
    Z_F}Y2-w9  
    结果:场追迹 ;Q0WCm\5  
    clwJ+kku@  
    (DW[#2\.  
    {MaFv  
    结果:线性偏振光的场追迹 )E2^G)J$W  
    Po: )b  
    d5x>kO'[l  
    HcrI3v|6  
    文档和技术信息 a V4p0s6ZZ  
    _IK@K 6V1  
    x\ pC&  
    ;BR`}~m  
    =7Wr  
    QQ:2987619807 G\?q{  
     
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