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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 R.N*G]K5  
    ,)1e+EnV&  
    任务/系统说明 /`> P|J  
    }b`*%141  
    6K}=K?3Z  
    N3p3"4_]fy  
    亮点 &/9oi_r%r  
    K dm5O@tq  
    vEGK{rMA  
    j&.BbcE45  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) {9 O`/|  
     严格分析光栅衍射效率 Z&,}Fgl!F  
     考虑入射光的方向分布 =*jcO119L  
    cmI#R1\  
    说明:光源 s`RJl V  
    ?C35   
    _ GSw\r  
    #cS,5(BM  
    说明:光束分束器  t;Om9  
    N&=2 /  
    +ctv]'P_  
    K8Zk{on  
    说明:检测透镜系统 6^;!9$G|D*  
    +`-a*U94  
    mNoqs&UB  
    "M^W:4_  
    说明:微型晶片 AW5g (  
    Hw&M2a  
    ^ {f ^WL=  
    Z;D3lbqE  
    说明:检测物镜 6a?p?I K^  
    (p=GR#  
    #Ca's'j&f  
    ;NE/!!  
    说明:探测器 om?CFl  
    _`>7 Q) ,7  
    J|S^K kC  
    q}Z T?Xk?  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Y{RB\}f(  
    !#1A7[WN  
    tY'QQN||  
    =hIT?Z6A  
    结果:3D光线追迹(所有级) y51D-vj  
    yMl'1W  
    5C1Rub)  
    L]N2r MM  
    结果:光线追迹 H^;S}<pxW  
    k^c=y<I  
    k=2l9C3Z  
    ok%!o+nk.  
    结果:场追迹 1Z8Oh_D C  
    ?^ezEpW  
    {))S<_ yN  
    3}{5 X'  
    结果:线性偏振光的场追迹 /(ju  
    EZQ+HECpK  
    R(N(@KC  
    oV>AFs6  
    文档和技术信息 Sx9:$"3.X  
    N3p 7 0  
    ZHECcPhz  
    fhIj+/{_O  
    GtJ*&=(  
    QQ:2987619807 I@Z*Nu1L  
     
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