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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 f 4 _\F/  
    UqHOS{\Sz  
    任务/系统说明 ceOjuzY  
    RpXQi*c0  
    1t0F J@)*  
    <r kW4  
    亮点 cU>&E* wD  
    7^; OjO@8  
    K c<z;  
    ZChY:I$<  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) `8-aHPF-  
     严格分析光栅衍射效率 gB"Tc[l1  
     考虑入射光的方向分布 epL[PL}  
    \XN5))  
    说明:光源 yjO7/< 2  
    sHuz10  
    o ,!"E^  
    ? 1{S_  
    说明:光束分束器 I Q L~I13  
    </Id';|v  
    g?VME]:  
    NQJqS?^W&M  
    说明:检测透镜系统 L,Nr,QC-  
    .g#=~{A  
    5:d2q<x:{  
    acZHb[w  
    说明:微型晶片 a7|&Tbv  
    v6VhXV6$|  
    !VHIl&Mos  
    HH#i.s2  
    说明:检测物镜 \k=Qq(=  
    GN9_ZlC  
    nnNg^<[k3  
    -X[[ OR9+  
    说明:探测器 I`TD*D  
    r8%,xA&  
    ,m?D\Pru  
    LPn }QzH  
    结果:3D光线追迹(只有0级) xW9 s[X  
    ])L'Rk#4  
    |w2AB7EU  
    pCUOeQL(  
    结果:3D光线追迹(所有级) h /QP=Zd  
    1.H!A@  
    1^#Q/J,  
    X@&uu0JJ  
    结果:光线追迹 3x0wk9lND  
    cmU+VZ#pk  
    BmFME0  
    b6Hk20+B;  
    结果:场追迹 .4W>9 8  
    ^6oqq[$  
    {l&2Kd*  
    X9A[  
    结果:线性偏振光的场追迹 5{0>7c|.  
    8@KFln )[  
    pf@}4PN}  
    8{fz0H.<?  
    文档和技术信息 B 9Q. s  
    &jZ|@K?  
     Gy6 qLM  
    U<Y'.!  
    9*+0j2uhQ  
    QQ:2987619807 fsc~$^.~\  
     
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