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摘要 Q<(aU{ Ti>}To}B5 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 BJ{?S{"6%G nIqF:6/ UI*&@!%bzp GK#D R/OM 建模任务 /buj(/q^# $9Gra# (N5"'`NZA 概述 zo@,>'m ;Hb"SB •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 cG4}daK]d •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 CjJ n P1<McQ u\km_e ,I:[-|Q 光线追迹仿真 ;HiaX<O! qBZ;S3 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 kRH
D{6mol •单击go! (U:6vk3Q •获得了3D光线追迹结果。 ?i}wm` s:I 8~Cc D2zqDo<+; `0-i>> 光线追迹仿真 V=c?V/pl \!k\%j9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 p$<){,R •单击go! 8DFq eY0S •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 FV%|*JW[;N 4+4&}8FH J$-1odL0Z i'}"5O+ 场追迹仿真 xFyBF[c y tTppmJF •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Kc+9n%sp •单击go! Ah
zV?6e &+/$~@OK y/+y |.Xg {wD "|K 场追迹仿真(相机探测器) t`1~5#?Du( B'6(Ao=3/ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 =-G4BQ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ~-~iCIaTb D?"Q)kVuD ,Uy~O(Ft N]G`] 场追迹仿真(电磁场探测器) ^;@!\Rc •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Nl{on"il ~~#/jULbV VGOdJ|2]Wr $-gRD|oY 场追迹仿真(电磁场探测器) ?y^ ix+M UBx0Z0Y •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 z@2nre r6kQMFA +sXnC\ 5gwEr170 文件信息 QtOT'<2t] MA v-# ,km`-6.2? 3.%jet1 C0L(ti; QQ:2987619807 O! w&3 p
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