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摘要 ?8V.iHJk 4@?0wV 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 JkAM:,^( .Az36wD
U8Y%rFh1 yQ[;y~W 建模任务 SraZxuPg> rY_~(?XS +H2Jhgi 概述 X=$Jp. .c"nDCFVR •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 :]-oo*xP •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 6^"QABc 2nB99L{6
{q0+PzgP sxREk99lL 光线追迹仿真 SN{+ P k S:_Ms{S •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 }GB~3
J •单击go! ii)#(b:V •获得了3D光线追迹结果。 hC:'L9Y QQ3<)i
te+} j7SU m@2E ~m 光线追迹仿真 "Lbsq\W> C Bkoky9& •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Zo3!Hs ZA •单击go! 5CkG^9 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ;}46Uc#WS @YI{ E*?S
b{A[\ " cfLLFPhv) 场追迹仿真 i
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Gt OpUfK4U) •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 &K9;GZS? •单击go! v"bWVc~H 7*5B /Y7^!3uM /s\ mV 场追迹仿真(相机探测器) $p0nq&4c uAO!fE}CJ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 8MJJ w; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Q]k<Y N"S`9B1eD(
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oe& 场追迹仿真(电磁场探测器) f@OH~4FG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 FZe/3sY 2@|`Ugjptl uC'-: t# ;sB=f 场追迹仿真(电磁场探测器) l;; 2\mL? E'AR.! •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *QC6zJ my'nDi
ewMVUq*: *[Hp&6f 文件信息 LE\*33k_ (t4i&7-
/ ;`H ) HsCL%$k [EAOk=X QQ:2987619807 =^9h
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