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摘要 V`fh,(: 7 cIVK}& 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 s^KxAw_IV B4|%E$1+
^ACp_RM =C3l:pGMB; 建模任务 At bqj? rX{|]M":T bNaJ{Dm$R 概述 {8B\-LUR >MP PYVn7 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 A<.Q&4jb •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]&G5/]f Fsq S)
.cZ&~ N ([9h.M6v 光线追迹仿真 caj) ?pF;{ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 s9 E:6 •单击go! giu~"#0/F •获得了3D光线追迹结果。 "!Qhk3* T:!sfhrZ~<
{YGz=5 ^ 'g=yJ 光线追迹仿真 xd .I5 Dh9-~}sW' •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 dIpt&nH&$ •单击go! |t]9RC.;7 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2Qy!Aa \W(p )M
%~W}262 Bw#ubQJ8} 场追迹仿真
{X =\ .e"jnP~ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 6/-!oo •单击go! #VO2O0GR Wig0OZj O?2<rbx ]Z84w!z 场追迹仿真(相机探测器) tAC,'im:* DS$ _"'g%i •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 .gPsJ?b •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 18n84RkI9 iP!Y4F
gP`!MlY@ 8uGPyH 场追迹仿真(电磁场探测器) #P4dx'vm •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (jm.vL&5j Z~,.l
sTA/2d kCwTv:) 场追迹仿真(电磁场探测器) y(]|jRo m+m6"yE#_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 GY",AL8f )4`Ml*7x
D}061~zb$ /-hF<oNQ 文件信息 1 IlR o5D" <-=>
b"Mq7&cf |O)deiJRy j^ _I{ QQ:2987619807 a?Y1G3U'
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