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摘要 mMtX: 4.i< `' 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 aECQ(]q )R9QJSe
c *]6>50 p?4h2`P 建模任务 1
c4I`#_v "_36WX $_0~Jzt, 概述 $_&gT.> R"k}wRnxY •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ]tDuCZA •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 *lws7R V|zatMHs
lG!We'? LuUfdzH 光线追迹仿真 VT`C<' N13wVx •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 dQH9NsV7g •单击go! b'5L|1d •获得了3D光线追迹结果。 j?cE0
hz v6_fF5N/
>z1q\cz _^"0"<, 光线追迹仿真 S2EeC&-AR x5)YZ~5 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 9Fv VM9 •单击go! ]&RC<imq •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 O!#bM< * mtg3}etA
o+T%n1$+V d%='W|i\p& 场追迹仿真 | ?])]F (*\*7dIo •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 %I6c}*W •单击go! h
TY7`m"> NU?05sF j* \gD
&e~g}7 场追迹仿真(相机探测器) 3BWYSJ| PQFr4EY?i •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 h1'j1uI •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 BVk&TGa;[$ S>s{t=AY~
%uWq)D4r eL7\})!W 场追迹仿真(电磁场探测器) */JMPw& •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .G|9:b !xz0zT. Nn%[J+F Y^~Dr|5% 场追迹仿真(电磁场探测器) cK(S{|F I "<ACM •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Lupug"p0
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p%+uv\Ix 2,,t+8"` 文件信息 #nOS7Q#uW R8U?s/*
fxKhe[; ^YLk&A)X wZ_k]{J QQ:2987619807 i)pAFv<$,
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