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摘要 srhFEmgN7) DYkC'+TEX 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 wJ/~q) T 4vogoy
*J.c $1#h Pb3EnNqYbM 建模任务 \A ;^ UxG \N6<BS .:T9pplq 概述 7Onk!NH 8b{U
tT •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 QaIi.*tic •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 h<GyplG G]at{(^Vz
EQ6l:[ PVZEB 光线追迹仿真 >J9IRAm}sc L,O>6~9:^1 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Ia=&.,xub •单击go! *>G^!e.u •获得了3D光线追迹结果。 @Ap@m6K?q *h>OW
PnI)n=(\ pb~Ps#"Zg 光线追迹仿真 `CPZPp,l6` t;h+Cf4 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ]aREQ?ma&z •单击go! zwK g •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 )hePN4edj Ml'bZLwq
\a\^(`3a[ P0a>+^:% 场追迹仿真 \MfR #k0 "tqS|ok. •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 t)YFTO"Jj •单击go! D%6ir*%T E=$7ieW =ltbS f7 ]}jgB2x7 场追迹仿真(相机探测器) ?aP1 c& 9+/JYMo •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 "(9=h@@Y" •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 R~U2/6V ZJ;wRd@
n%7A;l!{ ,| $|kO/ 场追迹仿真(电磁场探测器) E!:.G+SEl •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 BnY\FQ)K dY/|/eOt<K N:m@D][/sW s?4%<jz 场追迹仿真(电磁场探测器) ;}UIj{sj* =e"H1^Ml •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %#[r_QQ^ 1^n5CI|7u
JS<e`#c& |;xfe"] 文件信息 g?k#wj1uH nPQZI6>
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