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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 ]'}L 1r  
    UpG~[u)%@  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。  &HW9Jn  
    fl(wV.Je|  
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    -~1~I e2  
    建模任务 Wc#24:OKe3  
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    E fDH6  
    概述 Nc`L;CP  
    %Zi} MPx  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 }OUtsh]y  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 e= AKD#  
    fex@,I&  
    kj_c%T ]/  
    fu5=k:/c  
    光线追迹仿真 >Ry01G]_/h  
    b;n[mk  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 xp t:BBo  
    •单击go! CrLrw T  
    •获得了3D光线追迹结果。 HtFDlvdy]  
    DVA:Cmh\  
    wT@og|M  
    pP_LR ks}  
    光线追迹仿真 Cy e.gsCT  
    6Oq 7#3]  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~ }P,.QQ  
    •单击go! 5+vaE 2v  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 mt .sucT  
    w<#!h6Y=  
    w:0E(z  
    iTwm3V P  
    场追迹仿真 Y4-t7UlS;  
    +>,I1{u%&  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 _)8s'MjA:&  
    •单击go! ;u JMG  
    P0@,fd<  
    1?}T=)3+$  
    V!Uc(  
    场追迹仿真(相机探测器) XSR 4iu  
    D7Z /H'|  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 L0,'mS  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 l#o ~W`  
    1Mzmg[L8  
    5! {D!  
    qX%_uOw:%  
    场追迹仿真(电磁场探测器) )7F/O3Tq  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 dV_G1'  
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    ye&;(30Oq  
    kVgTGC"L=  
    场追迹仿真(电磁场探测器) FPz9N@M%Q  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ^q5#ihM  
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    文件信息 )nkY_' BV  
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    QQ:2987619807 }2jn[${ pr  
     
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