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摘要 /'fDXSdP ;;hyjFGq% 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 AWXpA1( xevP2pYG:
E0^%|Mh]b YQdX>k 建模任务 H&Y{jqua uo'31V0 #x@lZ! Y 概述 !LOors za Guw|00w,Q$ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 8{SU?MHQLE •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Pph8"`mv.m xf"5<PTW</
D>b5Uwt )(Mr f{ 光线追迹仿真 uoY`qF.` <!}l~Ln15 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 S50x0$%<W •单击go! Wo9psv7. •获得了3D光线追迹结果。 x3 6 #x 0O,T=z[+>
Xu94v{u3 A:bPIXb 光线追迹仿真 H4'DL'83 Sja{$zL+W •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 \y H3Y •单击go! }i7U}T •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Qj<{oZp& "G9'm
Ig Vo%)n G9n /S=R? 场追迹仿真 Wd`
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SU%rWH •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 d9-mWz(V+ •单击go! s w.AfRQP n^pZXb;Y 7XVzd]jH FfxX)p1t 场追迹仿真(相机探测器) &xBK\ ,d>X/kd|o •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 o d}EM_ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 V(2j*2R! -e{)v' C)
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h'l;. C?60`^ 场追迹仿真(电磁场探测器) ..q63dr •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 HLSfoQ&)v 6/mkJj+" _iGU|$a C](z#c~c 场追迹仿真(电磁场探测器) xdL/0 N3 ,zN3? /7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 jKj=#O "s>fV9YyZ
)ew[ Ak| C,{F0-D 文件信息 y^X\^Kq
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