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摘要 !qu/m B JW},7Ox 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 P#!^9)3 O7"16~a
@=ro/. h`n)
b 建模任务 WR"?j9y_q "Cz0r"N a.z)m}+
概述 @B`nM#X# 1 2VSzIm •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Y'^+ KU •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 L`"j>), ^O3i)GO
Et! 6i7`] ["_+~* 光线追迹仿真 ],~H3u=s3 ;Rf@S$ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Xaw ~Hh) •单击go! ,p>@:C/M •获得了3D光线追迹结果。 p:;`X! [gDl<6a#4
%M*2 j%6 b%QcB[k[WB 光线追迹仿真 |{ @BH Z8ds`KZM •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 *.6m,QqJ( •单击go! r3NdE~OAi •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 {%oxzdPc t2(vtxrt
_+9o'<#u( ny"z<N&}/ 场追迹仿真 QuIZpP= "s.hO0Z •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 \ZtKaEXnx •单击go! J(:y-U U1W8f|u n%6ba77 ^kK% 8 u 场追迹仿真(相机探测器) 5]*!N 5.LfN{gE) •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 {kghZur •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 |=:<[FU w! PguP
jp7cPpk:LG s6QD^[ 场追迹仿真(电磁场探测器) w$Z%RF'p •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 3T/&T`T+c &I:ZJuQ4 j[A:So \hWac%# 场追迹仿真(电磁场探测器) NX5$x/uz p^1~o/ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :=*V i` 3RF`F
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J@OK"%12 [V_+/[AA) 文件信息 w*]FJ-b<.j @*E=O |
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