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摘要 Z)xaJGbw ee#):
-p 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 J@ktyd(P WJ9cZL
u@%r ~/ilx#d 建模任务 [kgdv6E H'UR8% 'EfR|7m 概述 t"YNgC ^ d/e|'MPX •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 LW:LFzp •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ?
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'vaLUy9] "AhTH.ZP 光线追迹仿真 !GQ\"Ufs> Q9&kJ%Mo •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 n%\
/J •单击go! BiZ=${y
•获得了3D光线追迹结果。 }AvcoD/b 5+jf/}tA
q;wLa#4)J *79m^ 光线追迹仿真 'iY*6<xS< c$QX)V •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !;!~n` •单击go! =?(~aV •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 !HJ$UG/\ cbu@*NzY,
'XUKN/. DF{Qw@P! 场追迹仿真 6k/U3&R l@hjP1o •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 }V|{lvt. •单击go! 92'wkS rBN)a" ^:jN3@Q% io3yLIy, 场追迹仿真(相机探测器) L~^*u_U] <_./SC •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 8g>b •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 cubk]~VD P~FUS%39"o
7.+#zyF =4 X]gW 场追迹仿真(电磁场探测器) 8Z2.`(3c[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 -n? g~(/P ._96*r=o <vbIp& Zzl,gy70 场追迹仿真(电磁场探测器) +/+P\O S|GWcSg •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {hO`6mr&t VIR. yh
e|r0zw S (,xZGa 文件信息 9%iFV
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