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摘要 $:vS_# GAh\6ul 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 1ZvXRJ)% O}6*9Xy
)R"UX:Q> ;iUO1t)^ 建模任务 e8z?) 4T (!Fu5m=<8 A 0;ng2& 概述 | "eC0u SUsdX[byb •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?|n @%' •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 SkU9iW(k \e%%ik,<
0P;LH3sx gaE8\JSr 光线追迹仿真 h6;zAM} sAF="uB •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 D\DwBZ> •单击go! |HwEwL+ •获得了3D光线追迹结果。 V7
hO} :y_]JL;w
Lu4>C 2{ 5BM6Pnle 光线追迹仿真 f{{J_""?& `SS[[FT$> •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !H6X%hlk •单击go! 0J;Qpi!u2v •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 GB)< 5I 'GLpSWL+*
&Cr4<V6-q yFTN/MFt 场追迹仿真 H9WXp& *mW 2vJ/B •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Mh@n>+IR •单击go! 9N6 \Ou~ 7~L_>7; !=6 \70lJ *\`<=,H6< 场追迹仿真(相机探测器) :_o^oi7G qga?-oz,<6 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Lw<.QMN%f •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 pxW*kS ^RYq !l$
8cuI-Swz ENFM``dV# 场追迹仿真(电磁场探测器) ^^*Ia'9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :kd]n$] }R_Rw:W h]j>S }?sC1]-j& 场追迹仿真(电磁场探测器) BteeQ&A|~ c Ze59 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 $\PU Y8 M6].V *k'2
'p[B`Ft3F |n~,{= 文件信息 v3<q_J'qT .-Dc%ap]
+M<W8KF 2)-4?uz~ Q&/WVRD QQ:2987619807 wNmC1HOh
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