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摘要 E{E0Z9t7& z//VlB 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 !|
#83 :e<7d8E5n{
%}-?bHB1c cPDQ1qre! 建模任务 `=UWqb(K_ GZip\S4Y _oG&OJ@ 概述 x/!5K|c q%Yn;g|_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 nKoiG*PI •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Hc^W%t~ *`_{
0@I S m3bCZ9iE 光线追迹仿真 #bH_Dg5I .8(OT./ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 -I.d}[ •单击go! A@hppaP! •获得了3D光线追迹结果。 ag-f{UsTy x'<K\qp{{
`h:34RC; Dre2J<QL 光线追迹仿真 9KWuN:Sg km~Ll •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 rf~Y6U?7 •单击go! u .f= te •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 oVFnlA Q7Iw[=;\
js iSg/ eET&pP3Rp 场追迹仿真 ^=>Tk$ _2 ljTBvU •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 #Cpd9| •单击go! 7xRl9 A, 3bC ls@i".[ wO?{?+I`q 场追迹仿真(相机探测器) (hiyNMC IxLhU45 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 .<@8gNm3 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 1`ayc|9BR {|I;YDA
fhL,aCS= /1Ue?)g 场追迹仿真(电磁场探测器) M5gWD==uP •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S<'[%ihx ,) J~ ,^f6 X}+>!%W!} yw];P
o, 场追迹仿真(电磁场探测器) :oJ=iB'Zc lOtDqb& •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *G*
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+$g}4 0$,SF3K 文件信息 uj :%#u 'Lu__NfN
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