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摘要 d,G:+ ZO2$Aan 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 R`F54?th f(h nomn
ZgcJxWC< rR4_=S<Mi: 建模任务 WUM&Lq
k" hwaU;> F fq.ui3lP) 概述 }T?0/N3y& V^P]QQ\
) •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Y?(kE` R •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 zw`T^N# X4:\Shb97
swBgV,; .X;zEyd 光线追迹仿真 w~NQAHAvo H+`s#'(i_P •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 E*ug.nxy •单击go! P,x'1`k~ •获得了3D光线追迹结果。 )x/Spb Dk!;s8}*c
lw4#xH-? G6C#M-S 光线追迹仿真 ymdZ#I- SO#NWa<0| •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !1tHg Z2\ •单击go! ,Jy@n]x •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 vps</f! W0X/&v,k*
T[}A7a6g_ @_Ko<fKSX 场追迹仿真
`.dX@< }Km+5'G'U •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 *OOi •单击go! g]IRv(gDh g-0?8q5T6 j@xerY #V[j Q Vl 场追迹仿真(相机探测器) CbmT aEaP ~C1lbn b •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 *C81DQ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Y40`~ ,m| :U
~c&ygL3 ^gb3DNV~y 场追迹仿真(电磁场探测器) "|?zQ?E •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9`P<|( {sn RS)- R?)M#^"W yrp5\k*{y 场追迹仿真(电磁场探测器) AJ_''%$I3: ke'aSD •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 -nVQB146^ zn| S3c
&cDLSnR qPEtMvL
# 文件信息 <L4.* ;D}8acQ
_4eSDO[h \LYB% K} 3uSj5+@q6 QQ:2987619807 : GVyY]qBU
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