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摘要 PY.K_(D eMC^ORdY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 MhD' [3G{NC|'
5'I+%66?h$ %7 bd}sJ# 建模任务 {fzX2qMZ] p8~lGuH B#Ybdp ; 概述 _|#abLh% ORs:S$Nt$ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 lx%c&~.DiB •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 }}=n]_f 7 H
T,pr&1]Lw FfJp::|ddr 光线追迹仿真 B>^6tdz rF-SvSj} •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 0\tac/ •单击go! \5r^D|Rp} •获得了3D光线追迹结果。 5-|!mSd ?ZlXh51
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.8C$0 z4:!*:.Asu 光线追迹仿真 j%Au0k yS
W$zA, •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Q"XDxa'7" •单击go! a|7C6#iz$ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 j#5a&Z i-OD"5a`
4H-eFs%5 .*-8rOcc 场追迹仿真 D$}8GYq pux IJ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 |u>(~6 •单击go! "[_j8,t` 'v6@5t19j dw"Es;^ IgX &aW 场追迹仿真(相机探测器) q`c!!Lg 5~[7|Y •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 *-nO,K>y` •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 eJ?oz^ ZbYC3_7w
u5oM;#{@- ]].~/kC^3k 场追迹仿真(电磁场探测器) 4E^ ?}_$ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 PAYw:/(P Z=a%)Ki?Ag F06o-xH= v76Gwu$d 场追迹仿真(电磁场探测器) ^^N|:80 `}Zqmfs •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 TJ"-cWpO1 Dp([r
G"<#tif9K b)d;eS 文件信息 Nm?^cR5r zXY8:+f
r].n=455[ QHR,p/p B)JMughq_ QQ:2987619807 5kiW@{m
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