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摘要 pXu/(&? 1D F/6y 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Tde0 ~j} c0_E_~
?<U{{C ujr(K=E 建模任务 tnz+bX26 h1[WhBL-O =WG=C1Z 概述 c>HK9z{ fY,|o3# •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~6aCfbu%V •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
Pm+tQ 2&Jdf
+*}{`L-
: [q*%U4qGO 光线追迹仿真 El-
? % 6GAaV[])' •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 52d^K0STC •单击go! T6#CK
•获得了3D光线追迹结果。 .fYZ*=P;c ?F7o!B
rJJ[X4$ MFt*&%,JX 光线追迹仿真 71fk.16 W_`A"WdT. •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 (=4W-z7 •单击go! 5fJ[}~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 \4d.sy0&>- l[GOs&D1
b'YE9E !#2=\LUC 场追迹仿真 p(F " / 4|?{VQ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 N587(wZ •单击go! _>m-AI4^ C?4JXW X2|Y nH|,T% 场追迹仿真(相机探测器) uC3:7 L!Cz'm"Nl •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ^].jH+7i* •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 DZS]AC* iRV~Il#~!
6K`c/) @|}BXQNd 场追迹仿真(电磁场探测器) e({9] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 H(
jXI /93l74.w Z?P~z07 lbdTQ6R 场追迹仿真(电磁场探测器) +!IQj0&'Y3 ~[WF_NU1y •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 gi/@j )d\j I
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v j%u-dr 文件信息 $?G"GQ!. qBV x6MI
_@mRb^ )tHaB, J7D}% QQ:2987619807 cJo\#cr
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