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摘要 1w^[Eno$$ Tq8r
SZi 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Q.AM t}gqk' YPEd
XU8} Shd,{Z)-Tg 建模任务 xGA0]
_ \&90$>h ;N|>pSzmL 概述 ^IYN"yX_ uSjMqfK •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 6f>HE'N •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ?J?!%Mw <,C})H? 0=DawJ9 N!,l4!M\N 光线追迹仿真 Hkt'~L* bwFc>{Wo5 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 +pm8;& •单击go! w>s •获得了3D光线追迹结果。 ZP<X#]$qb Y."[k&P- 8=9sIK2 o*xEaD 光线追迹仿真 A9gl|II ENzeVtw0 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 .Dmvgi] •单击go! 3R><AFMY? •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 jGCW^#GE /H%pOL6(r )%7A. UO) \^cn}db) 场追迹仿真 {xX|5/z )J0VB't •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 G#Ow>NJ •单击go! *79<ypKG$ M{QNpoM V2.K*CpZ7 ngjbE+ 场追迹仿真(相机探测器) elN3B91\6r 9[*kpMC •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 uJ$,e5q •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 {Hv=iVmt 2H#vA 4hs4W,2! 'Bx7b(xqk 场追迹仿真(电磁场探测器) 8] *{i •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 A VjtK N_0O"" d r.GjM#X I}=}S"v 场追迹仿真(电磁场探测器) = DgD&_ U PC& O •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :Us-^zVr cPXvTVvs 0)NHjKP /%7eo?@, 文件信息 MqqS3
pLU>vQA S]>_o "|HV h4#5j'RO ){}#v& QQ:2987619807 PD?H5W3@
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