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摘要 ; Byt'S Z$JJ0X 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ]i$0s BEvY&3%l
5dI=;L>D 9`*Eeb> 建模任务 [Hx(a.,d BZ1wE1 t &hI!mo 概述 2cH RiRT T+ZA"i+
•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 W.MZN4= •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 '<BLkr# @ K F_fz
l|?tqCT ^h P:4"~]} 光线追迹仿真 $t.oGd@N Sb /?<$> •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 iX]OF.: •单击go! ,3Q~X$f •获得了3D光线追迹结果。 y>aO90wJ Ee2P]4_d
$t):r@L B_Q{B|eEt& 光线追迹仿真 6/mz.,g2 MmN{f~Kq9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ;v@ G •单击go! gGL}FNH •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 "Zgwe,# WJhTU@'
rM,e$ ,bl }@0A 场追迹仿真 $h{m")] 4@@Sh`E: •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 M/=36{,w- •单击go! 1"ZtE\{
" 5MB`yRVv id1cZig S@HC$ 场追迹仿真(相机探测器) i *.Y MONX&$ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Wn(!6yid •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 5p[}<I{ 0vm> *M*p
V2Vr7v=Y" #XDgvX > 场追迹仿真(电磁场探测器) !Zj]0,^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 g8##Be o:AfEoH"~ ][$I~nRf 4=([v;fc 场追迹仿真(电磁场探测器) 2F:qaz 3Tl<ST\ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 2e1KF=N+ kP
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\sAaVdZJH( o%t4WQ|bj 文件信息 \0b}Z#'0 oZvG Kf
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