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摘要 Vf<q-3q EWQLLH "h 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 N,l"9>CF ~@(C+ 3,
!qU1RdZ pRd'\+ 建模任务 =3`|D0E K$w;|UJc Ay PtbrO 概述 qDU4W7|T` g>k?03; •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 DEbMb6)U •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 K/j u=> {&UA60~6
_,IjB/PR( 1vxQ`) a 光线追迹仿真 j=Izwt>
@$'pMg •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 &FuL{YL •单击go! >239SyC-, •获得了3D光线追迹结果。 n1PBpM9! H5V>d
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w"{8laB xVgm 9s$"c 光线追迹仿真 vB}c6A4'U Ga-cto1Y •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 h(<>s#=E •单击go! ^9]iUx •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 =,h'}(z_ 4 Yv:\c
T\g+w\N 841 y"@*BY 场追迹仿真 XH@(V4J(. fGqX
dlP •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 z;F HZb9t, •单击go! 9x|`XAB UoKVl- Em^~OM3U$q 8>Cf}TvErx 场追迹仿真(相机探测器) +:4>4= &$
"J\vm •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 _U-`/r o •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 vSC1n8 / 6@t&
FO%pdLs, 'Grii, 场追迹仿真(电磁场探测器) |R _rfJh •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &(A#F[ =0 *OznZIn T!ZjgCY} 8'jt59/f 场追迹仿真(电磁场探测器) )$bF* i?;#ZNh •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 MP)Prl> x,.= VB
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P5K 文件信息 =CJ`0yDQ> DXI4DM"15I
!Q15qvRS l`ZL^uT A|S)cr8z QQ:2987619807
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