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摘要 lLZ?&z$ bdr!|WZ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Zc*gRC U=ie|
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fg8U*7 >=ng? 建模任务 m>-(c=3 f"A?\w @ {1]Of'x' 概述 }_o!fV IQCIc@5 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 NQhlb"Ix •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ejC== Fkc ^DS+O>
QyX ? LVp*YOq7 光线追迹仿真 QH_I<Y:n JOJ?.H&su •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 OA3* "d* •单击go! :]oR x •获得了3D光线追迹结果。 !{L`Zd;C>w _o-D},f*e
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Y 光线追迹仿真
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T73OI>_ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ,
1{)B •单击go! vQpR0IEf]e •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 E)dV;1t :5`BhFAd
Qpc+1{BQ er?'o1M 场追迹仿真 V_g9oR_ <([1(SY2e •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 )TBG-<wt •单击go! Ex
?)FL$4 ;O2r+n Ta38/v;S q.OkZI0n 场追迹仿真(相机探测器) ^< ,Np+ j6~#_t[ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 J['paHSF •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 /
W}Za&] s wdW70
c%aY6dQG&% mlR*S<Z 场追迹仿真(电磁场探测器) Uu9\;f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9tVA.:FOZ @'DfNka Y" s1z<? Ch`XwLY9 场追迹仿真(电磁场探测器) .,pGW8Js wwS{V •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %v\0Dm+A Ctxs]S tU%
kmM1)- v d*=P8QwL| 文件信息 u0^:
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