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摘要 Wg}#{[4 &6}vvgz 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ?TzN?\ }3?M0 :
Ir}&|"~H +d'h20 建模任务 RbrvY possM'vC SULWPH5Pr 概述 I [e7Up <D4)gRRo •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 c\;}ov+ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 4AF"+L h+*
?94da4p `_v-Y`Z 光线追迹仿真 b]Z@zS<8 ?W(wtp,o •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 :fj}J)9'xW •单击go! crhck'?0 •获得了3D光线追迹结果。 (bBetX Dri1A%
]AHi$Xx X=.+XP] 光线追迹仿真 }"cb^3 {{<o1{_H •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 qC3 rHT] •单击go! g#70Sg*d •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 iK.MC%8? 4Y)3<=kDG
L)w& f r/{VL3}F_e 场追迹仿真 A: @=?(lI3 -D(UbkPw •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ?>AhC{ •单击go! I&(cdKY
z !'[sV^ds }%jb/@~ B2,!
0Re 场追迹仿真(相机探测器)
*y0`P0V|8 +h9CcBd •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 #Xn#e •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 :))AZ7_ M(2[X/t
v=`VDQWq \T[*|"RFZ 场追迹仿真(电磁场探测器) z2dM*NMK •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 UW>~C J#X 7Ss bMv9f
J mS);bs 场追迹仿真(电磁场探测器) <~Y4JMr" MWB uMF •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ]#*@<T*[ Z]Qm64^I
]T*{M i3Ffk+ |b 文件信息 [6-l6W Qe4
Dn6DkD! 8XY4 |]I?^:I QQ:2987619807 d-?~O~qD|!
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