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摘要 WFqOVI*l jd
8g0^ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 )oS~ish U2JxzHXZ
j{zVVT W}wd?WIps 建模任务 -OfAl~ 4 `WQpGBS_z_ ({!*&DVu 概述 }yCgd 5+_ ,l\D@<F •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 q#Ik3 5 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 QkO4Td< Aca?C
<R#:K7>O 8[8U49V9( 光线追迹仿真 U(:t$SBKy mOYXd,xd •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 +Pn`AV1 •单击go! 6AmFl< •获得了3D光线追迹结果。 y"nCT3 nON"+c*
ra\|c>[% @;d7#!:cE 光线追迹仿真 /bqJ6$ }HZ'i;~r|9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ;{cl*EN •单击go! ^#2Y4[@ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 :#W>lq@H hM`*-+Zb
3-2?mV>5 XecU& 场追迹仿真 wijY]$ e9?y0vT// •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 8m)E~6 •单击go! 'MIM_m)H ,[Z;"wE *|:]("i q]t^6m&- 场追迹仿真(相机探测器) '
9 .DHRPel •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 '~'3x4Bo •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 %|3UWN b~FmX
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'@u "'"dcA 场追迹仿真(电磁场探测器) M3
$MgsN: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :YZMRJL \Tj(] E^.
=^bR .{W)E 场追迹仿真(电磁场探测器) n-_-;TYH [t`QV2um •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .oo>NS e: :H1V
nEm+cHHo? Ws`P(WHm 文件信息 }KHdlhD W;C41>^?/
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