切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1103阅读
    • 0回复

    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 R:+2}kS5e{  
    nBs%k!RR  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >*ey 7g  
    2ye^mJ17  
    J[ 9yQ  
    b>|3?G  
    建模任务 %x_c2  
    et|P5%G  
    !6_lD 0  
    概述 C2GF N1i  
    d4c-(ZRl  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 &IGTCTBP  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 1 h(oty2p  
    *@'4 A :A  
    TK.a6HJG  
    X+;F5b9z  
    光线追迹仿真 2`(-l{3  
    O_8ERxj g]  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {~DYf*RZ  
    •单击go! fu|N{$h%X  
    •获得了3D光线追迹结果。 Sfc0 ~1  
    wD>tR SW  
    :5X1Tr= A  
    ND[u$N+5x"  
    光线追迹仿真 }J}a;P4  
    iq$edq[  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &.ZW1TxE8  
    •单击go! &wRdUIc  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Ojj:YLlY>  
    j""I,$t  
    P<b.;Oz__-  
    L-_dq0T  
    场追迹仿真 TQm x$  
    BCV<( @c  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 WjZJQK  
    •单击go! =T5vu~[J/e  
    6'y+Ev$9  
    zAEq)9Y"l'  
    %Kd&A*  
    场追迹仿真(相机探测器) dzDh V{  
    $,ev <4I&  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 %+oWW5q7  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 4fBgmL  
    6U;pYWht  
    pq[RH-{  
    IdTeue  
    场追迹仿真(电磁场探测器) Eq zS={Olj  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 a5WVDh, cR  
    24{!j[,q@  
    V-a/%_D  
    .{D[!Dp#h  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ?&Si P-G  
    ay6G1\0W  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q[{q3-W  
    3 #R~>c2  
    DZ~w8v7V  
    B]dHMLzl  
    文件信息 )#[?pYd  
    ^ ab%Mbb  
    "!<Kmh5  
    R`ajll1  
    6N(Wv0b $  
    QQ:2987619807 RC Fb&,51  
     
    分享到