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摘要 GbaEgA'fa C;vtY[}< 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 `FC( RnDt)3
z'EajBB\f ,YMp<C 建模任务 w4d--[Q `{xNXH]@ Ck|8qUz- 概述 b 'pOJS 6efnxxY}sa •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 HF.^ysI •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 4tS.G
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;y2/-tL? v*[.a#1^ 光线追迹仿真 B[4KX =Yt
R` •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ]V#M%0:Q82 •单击go! ksN+?E4w •获得了3D光线追迹结果。 ^~A>8CQOU 4zo5}L`Y
ZKckAz\# Aj4T"^fv 光线追迹仿真 [Yc G(^^ 4sT88lG4n •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 w2'f/ •单击go! 6 jn3`D •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 jWE:ek* }dd8N5b
qDfd. gL c. 2).Jt, 场追迹仿真 /x1![$oC0 7F{3*`/6 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 /Bm( `T •单击go! KW^7H &E=>Hj(dTG ]3l 9:| >\Ww;1yV 场追迹仿真(相机探测器) k-{<=>uM :FTMmW,>' •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 <U\B!fO' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Oz%>/zw[h ^i}
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DS[#| %Va!\# 场追迹仿真(电磁场探测器) 7w6cwHrL@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 F ;2w1S^ ~15N7=wCM 3skC$mpJHw Ot6aRk 场追迹仿真(电磁场探测器) *5^Q7`` b7p@Dn?E •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 DuHu\>f<S j4R(B
:dQ B R F6{bjv2A 文件信息 ^8AXxE ?}U(3
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