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摘要 ;.xKVH/@ fuCt9Kjo< 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 sUR5Q/Q Y%y
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建模任务 2!CL8hG5: K5^zu`19 `HYj:4v' 概述 :yi} CM4 [h&s<<#
D •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 yt,Ky8y1 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 9&Y|,&W V!yBH<X
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e_wx #)48dW!n 光线追迹仿真 #4"eQ*.*" _(~E8g •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 X&rsWk •单击go! L\bcR •获得了3D光线追迹结果。 vpdPW %B #uC}IX2n
jA~omX2A s`[V{1m, 光线追迹仿真 S5Pn6'w KyP@ hhj •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 (Nd)$Oq[4 •单击go! fk1d iB •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 R3piI&u E KN<KnU%
OR'e!{ `fJ;4$4 场追迹仿真 d|~'#:y@ k.)YFKi •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Zn Rj}y •单击go! M_cm,|FF Q.V@Sawe5 Yy`A0v a~JZc<ze 场追迹仿真(相机探测器) | "M1+(k7 2lN0Sf@ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Y-+Kf5_[ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 R{aqn0M IC$"\7
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zA$ f$J7\^ Q4S:/"*v8 场追迹仿真(电磁场探测器) [{&OcEf •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 M-+!z5q~d !Zc#E, A5%Now;.cf 'r -B%D= 场追迹仿真(电磁场探测器) ,LLx&jS Hxc>? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 t)O]0)
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