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摘要 cKOXsdH?SL p!)tA 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 !0|&f>y ?I:_FT
.6y*Z+Zg wZbT*rU 建模任务 g\?07@Zd| bY*_6SPK4 yx6^ mis4 概述 (n_.bSI #pPR>,4 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 0(9gTxdB •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 $G9E=wn k>8OxpaWv?
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65<|0 ,KF>@3f 光线追迹仿真 2n2,MB ZCb@!V}= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 zQt)>Qx_ •单击go! 7}~nQl2 •获得了3D光线追迹结果。 mo=@Zt (!0_s48f
3m2y<l< dS \n2Qb 光线追迹仿真 kK
5~hpv dVGcth;
•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 l&"bm C:xr •单击go! D+oV( Pw, •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 e8egxm TaKHr$h
uH7rt : 0Y.${h 场追迹仿真 K;s` /k^j'MMQs6 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 RU=g|TL •单击go! EG8z&^O x ~7Nqwwx */TO$ ^s b}u#MU 场追迹仿真(相机探测器) -xJ\/"A kI5LG6 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 <Nc9F[' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `ZP[-: ` ]^{5`
KVViTpZ 4"{g{8 场追迹仿真(电磁场探测器) (4`Tf*5hHa •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 R iV]SgV9 8
?:W{GAo -~lrv#5Q _n4`mL8>kH 场追迹仿真(电磁场探测器) !ueh%V Ky M$f_I + •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I>-}ys`[ |BGzdBm^x:
]x3 )OjH ,pkzNe`F 文件信息 @e7_&EGR? R\$6_
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