切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1378阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7357
    光币
    30926
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 J7cqnj  
    ,MvvW{EY  
    IB;y8e,  
    \'p7,F{:>5  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 `7 B [<  
    v#/,,)m  
    建模任务 O/-OW: 03  
    ihYf WG|  
    0?`#ko7~d  
    ]B7t9l  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 9QX{b+}"e  
    A23Z)`  
     E;|\?>  
    EhVnt#`Si  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 (6A{6_p  
    @%fkW"y:  
    |ITg-t  
    *l9Y]hinq  
    文件信息 ?PQiVL  
    ePY K^D  
    vcSS+  
    H{$yy)@F  
    #tfJ?w`  
    QQ:2987619807 -OW$  
     
    分享到