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摘要 8/*q#j U(DK~#}
jQzq(oDQw {%xwoMVc+ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 M"2Tuwz KFdTw{GlJ7 建模任务 Qwb=N }s=D,_}m
v2:A 4Pd:+ v'7,(.E 由于组件倾斜引起的干涉条纹 q-gN0"z^6$ $*^Ms>Pa_
>tnQuFKg] CN@bJo2 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 EAU6z(X$ 0'`>20Y
XP<wHh O emi } 文件信息 Qx|m{1~- +M! f}=H
q?g4**C NARW3\ ULqnr@/FbK QQ:2987619807 \ Q<c Y<
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