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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 ccJ@jpXI  
    8v M}moper  
     !RnO{FL  
    2 c <Qh=  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 zZ|Si  
     !z;a>[T'  
    建模任务 )BY\c7SG  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 EIwTx:{F  
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    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 _{o=I?+]  
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    .Mw'P\GtM  
    文件信息 jl=<Q.Mm7  
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     !p1OBS|  
    QQ：2987619807 0sRby!  
     
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