切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 871阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5937
    光币
    23838
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 `jr?I {m;  
    9iM%kY#)W  
    d:^B2~j  
    75> Ok/  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .oLV\'HAR  
    P,3w b  
    建模任务 |Ox='.oIb  
    4 83rU  
    /K1cP>oE  
    53a^9  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ~LOE^6C+~o  
    )u=W?5%=}  
    mW{>  
    z5~W >r  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 WK7?~R%rq  
    q TN)2G  
    cL03V?} ~  
    k 9z9{  
    文件信息 >}O}~$o  
    -TG ="U  
    ~Fwbi  
    <LXx_{=:  
    :lvBcFw  
    QQ:2987619807 %OO}0OW  
     
    分享到