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摘要 `jr?I {m; 9iM%kY#)W
d:^B2~j 75>Ok / 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .oLV\'HAR P,3w
b 建模任务 |Ox='.oIb 4 83rU
/K1cP>oE 53a^9 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ~LOE^6C+~o )u=W?5%=}
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>r 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 WK7?~R%rq q TN)2G
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~ k 9z9{ 文件信息 >}O}~$o -TG ="U
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