-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-07
- 在线时间1825小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 jdGoPa\ =5jX#Dc5.+
1/YWDxo, <OcD [5 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Vx^+Z,y&QP L= fz:H 建模任务 afcI5w;>} n%]1p36
w"O^CR) hp]T ^ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,tZWPF- wYJ. F
spV/+jy{ LuB-9[^< 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 7p(^I*| sV+/JDl
~JsTHE$F !PI& y 文件信息 >v9 (" AAE8j.
u|.L73<j% Q&;dXE h |>(;gr/5( QQ:2987619807 oq4*m[
|