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摘要 * p,2>[e n0@ \x=9
l:"zYcp% BxXP]od 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 l`<u\], rWzO>v 建模任务 :e TzjW= vM/D7YS:
x;>~;vmi PqwoZo0j 由于组件倾斜引起的干涉条纹 3l''
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ew6\Z$1c~ JdA3O{mT) 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,~xX[uB gK"E4{y_@
rXg#_c5j P}C;%KzA 文件信息 Mhj.3nN D4CiB"g3*
nQ^<h. K9N\E"6ZP [H2"z\\u QQ:2987619807 M8'
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