切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 1311阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 $u`v k|\R  
    Le*sLuxk<  
     V6.w=6:`X  
    @&7|Laa  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 |D ?}6z  
     n%"0%A  
    建模任务 sdWu6?B_  
    h 9B^U?<wT  
     y&$mN  
    /<\B8^yQ  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 D02_ Jrg  
    mROXwzL  
     $G_,$U !  
    Gl+Ql?|  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <o\2-fWvY  
    qq)Dh'5*e,  
     lM<SoC;[  
    m3La;%aA0  
    文件信息 ^3q o%=i  
    :=I@<@82W  
     ]nEZ Q+F  
    ~BSE8M+r  
     o,#[Se*n  
    QQ：2987619807 <`~zKFUQ[  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表