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摘要 ^O)ve^P Fnb2.R'+
h0Ee?= ^,TTwLy-t 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 i)8N(HN RPH1''*! 建模任务 @*(4dt:V ZY cd.? :6
/ZW&0E f@@s1gdb 由于组件倾斜引起的干涉条纹 xx }GOY.J -Wc~B3E|
7J|&U2}c iY~rne"l 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ``u:lL rwSbqL^eM
,a0pAj 3F+Jdr' 文件信息 u1Ek y/e-
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ghAi{@s$) ;:mu} nX^1$')gp QQ:2987619807 T5|c$doQ
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