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摘要 :Qg3B '; XujVOf
:n:Gr? 2sJj -3J 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 S?bG U8R5 H
h4G3h0 建模任务 abq$OI 2\xv Yf-
KrhAObK &VIX?UngE 由于组件倾斜引起的干涉条纹 rRN7HL+b !vU$^>zo~
/-ebx~FX& Md9b_&' 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 nwk66o:| .!ThqYo
D{&0r.2F 0W|}5(C 文件信息 7gR8Wr ^ |fMjg'%{}
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