切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 896阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 bhbTloCR  
    B9KBq $e  
    ka ;=%*7T  
    A"s?;hv\fS  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 q8;MPXSG3  
    3^-R_  
    建模任务 YktZXc?iI<  
    Sl'$w4s   
    a\oz-`ESa  
    Z#(Y%6[u  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 )PYh./_2  
    `L[q`r7  
    fkImX:|q  
    3/uvw>$  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 UUZm]G+  
    pFZ$z?lI  
    B!8X?8D  
    J=(i0A  
    文件信息 uudd'L  
    L+T7Ge q  
    \/gf_R_GN  
    m']$)Iqw  
    Qy}pn=#Q  
    QQ:2987619807 q #7Nk)<.  
     
    分享到