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摘要 bhbTloCR B9KBq$e
ka ;=%*7T A"s?;hv\fS 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 q8;MPXSG3 3^-R_ 建模任务 YktZXc?iI< Sl'$w4s
a\oz-`ESa Z#(Y%6[u 由于组件倾斜引起的干涉条纹 )PYh./_2 `L[q`r7
fkImX:|q 3/uvw>$ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 UUZm]G+ pFZ$z?lI
B!8X?8D J=(i0A 文件信息 uudd'L L+T7Ge
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