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摘要 &;3iHY; Q%>6u@'
}B1f_T x_L5NsO: 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +6~ut^YiM. OKi}aQ2R* 建模任务 uSQlE= H^sImIEUT
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l;=jk] U\y:\+e l 由于组件倾斜引起的干涉条纹 wHuz~y6 p`qy57
2y`X) FHbyL\Q 由于偏移倾斜引起的干涉条纹
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n?(sn 3QhQpPk), 文件信息 GHWt3K:*w W*;r}!ro
0?,<7}"<X M!R=&a=Z 9ERyr1-u v QQ:2987619807 PRal>s&f
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