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摘要 9ZFvN*Zf' O92a*)
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$ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2ED^uc:
0S 5dOA^P@`,M 建模任务 :a$ZYyD tKg\qbY&
*AX)QKQ@ vQf'lEFk 由于组件倾斜引起的干涉条纹 j$r .&,m +bK[3KG4F5
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cA s!S,;H 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Ch-56
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F jdh&9Zc DCS$d1 文件信息 5<Mht6"H $tvGS6p>
XgY( Vv Q)N$h07R +SCUS] QQ:2987619807 [XFZ2'OO
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