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摘要 -PPwX~;! M+&~sX*a
<SNr\/aCRi Y~}MfRE3z 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 eX$KH;M ;{I9S' 建模任务 @(#vg\UH }uIQ@f`
|m-N5$\IC WR #XPbk 由于组件倾斜引起的干涉条纹 .eN"s' h ;uzbu
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