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摘要 lqzt[z gN TP }a9-9?
b 2gng} _)A|JC!jId 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 H4/wO ^X#y'odtbS 建模任务 3jmo[<p*x 7Ai?}%b-
e#Tv5O ,75) 由于组件倾斜引起的干涉条纹 KA3U W \pmS*Dt
qi-XNB`b m[DQ;`Y 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 53Adic B2`S0 H
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ueFy<F 1? >P3C 文件信息 `lhw*{3A @W,jy$U
GP:<h@:798 ,_z79tC{s ofvR0yV QQ:2987619807 t,/ G
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