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摘要 *wd=&Z^19 zLg$|@E&
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@_PY 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 xC0y2+)| N'l2$8 建模任务 (n2_HePE %BMlcm7Ec
GNB'.tJ:0Y B`3z(a92S 由于组件倾斜引起的干涉条纹 P\{s C6E 7PUy`H,&
-ULgVGYKK aZa1 eE 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 &m9= q|;m +7
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N:#$S$ =;)=,+V~q 文件信息 E KN<KnU% ]-a/)8
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