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摘要 @U
/3iDB\ 51ajE2+X&
tC@zM.v% 01{r^ZT`RH 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 OBw`!G*w KIAe36.~ 建模任务 97]a-)SA (&P0la1
BvZ^^IUb @X|i@{<'; 由于组件倾斜引起的干涉条纹 u_6BHsU !,6v=n[Nz
DNW2;i<hsz +>!B(j\gx 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 \Ul.K!b7 lR@i`)'?U
ZH;y>Z 4$?wD < 文件信息 l\=-+'Y -#S)}NEn
C7jc 6(>m aZawBU.: r}y[r}vk QQ:2987619807 FfYd+]+?
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