切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 897阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 C"bG?Mb  
    ,at"Q$)T  
     xU$A/!oK  
    Q!DH8'|4?L  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 <p"[jC2zF;  
     q{v:T}Q|A  
    建模任务 zbHNj(~  
    3xS+Pu\)  
     X`km\\*  
    MhMY"bx8  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 A/n-.ci  
    +2%ih !  
     Q 6djfEN>  
    0TA{E-A   
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 5W/!o&x~7  
    noY~fq/U  
     KL:x!GsV5e  
    y]|Hrx  
    文件信息 b&:>v9U  
    shjc`Tqm  
     ^):m^w.  
    4]L5%=atn  
     oej5bAi  
    QQ：2987619807 0zrgK;9  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表