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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 CTS1."kx1  
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    TuEM  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 f92z/5%V  
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    建模任务  wX5q=I  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 bZ_TW9mq  
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    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 p="0Y<2l  
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    QQ：2987619807 =kfa1kD&{  
     
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