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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 U~CdU d<_NB]V&F 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 J2'W =r_# :TlAL#
s& 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 HIsB| /M]eZ~QKD 所需工具箱:高级光栅工具箱 #>"}q3RO \a?K?v|8 相关案例:100.01,101.01 ,zD_% ox 76$*1jB 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 <_>.!9q au,jAk 建模任务: >6IXuq y&y/cML? 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 \hrrPPD1z ^DzL$BX qP&byEs" 优化目标: .uBO ](_{,P —TE模偏振光的透过率最大化 3;y_qwA TR~|c|B —TM模偏振光的透过率最小化 z;[gEA+I [7'#~[a~ 优化函数: {s,^b|I2#U is9}ePC7Xu —最小化TE的透过率 =l_rAj~I| wL Y#dm —最小化偏振度(要求>50:1) ]GQv4-y D DQs42[ TeKC} NW L+8=P<] —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 1B6C<cL:sU A%h~Z
a *X~B-a |nJ r|*:9|y{"/ 优化的自由变量为: HOq4i! sTt9'P` —缝宽:10—190mm P@2tR5<R P87ld._ —光栅深度:20—200nm `'kc|!%MUq xIM8 优化算法: qx Wgt(Os oDz*~{BHg —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 =E&2 4 —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 qe[ r|l53I5 光路流程图和偏振分析器: tp#Z@5= RV(
w%g 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 ]Mn&76fu ZEL/Ndk 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 &aY/eD hN& yc Parameter Run 的全局搜索: *4-r`k|@>/ +Y^-e.UO Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 Sc% aJ1 A
*a{ Parameter Run 设置 tceIA8d6
W"W@WG9X0 缝宽:10—19nm 步长10nm; BHF{-z \H,V 9!B 规划深度:20——200nm 步长10nm; w/qQ(]n8 issT{&T 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 jAA'hA $eK8GMxZ# 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 Z~duJsH $|>6z_3% 使用扫描模块进行参数联合调查。 UVc>i9,0 优化函数依据迭代次数进行显示: Qe7"Z JCM)N8~i 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 \#uqD\DE -$AjD?; TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 "B3iX@C ;X+G6F' 参数构成: hCU)W1q# gcX5Q^`a= 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; }9MW!Ss {[l'S 7'-)/Pk 局部参数优化: {fAh@:{@ z2rQ$O-# 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 ;6DR.2}?> ~Y1"k]J 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; tfi2y]{A wlm3~B\64 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 j)6@q@P/ Q.j-C}a M3hy5j(b sL!;hKK 参数定义: &@mvw=d ^JYF1 规划深度为20-200nm,权重1e20 F7k4C2r .a 'ETNY:> 缝宽10—190nm权重1e20 i;E9ZaW 2N6Pa(6 优化函数定义: c28oLT1|D H=JP3ID>{ ——TE效率最小值被最大化(全波段) ~@b9
T+&x{+gZ ——偏振对比度大于50(全波段) n`FQgC uKLOh<oio ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 '0\0SL rC=p;BC@dD [+%p!T 选择下山简法进行局部优化。 m
_t(rn~f6 Pur"9jHa4 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 S+` !%hJ |YG)NO w3>Y7vxiz` 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 asm[-IB2u [8V(N2
优化过的参数为: S*~Na]nS0 LM'*OtpDG 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% pl1EJ < Vp- n(Z 结论: uAPLT~ EvGU j$ 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 e3HF"v]2! )_x8?:lv Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 \K4CbZ,.
6Dr$*9 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 L!G9O]WB QQ:2284816954 备注:光学 FM@W>+
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