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摘要 pv9Z-WCix$ uf<nVdC. 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 `UDB9Ca MH=;[ | N 建模任务 ^E349c-| )Me$BK> O0Sk?uJ< 元件倾斜引起的干涉条纹 hd)HJb-aR )mF;^3 8s#2Zv 元件移位引起的干涉条纹 }*s%|!{H \OX;ZVb?5 F;;\I 文件信息 I#U"DwM XlGDv*d:#d S eTn]
QQ:2987619807
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