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摘要 yMOYTN@] O]l-4X#8F 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 )>]SJQ!k d>/4z#R}- 建模任务 +!t *LSF &-x/c\jz +B7UGI 元件倾斜引起的干涉条纹 !v*#E{r"g= ~]BR(n KF7d`bRe 元件移位引起的干涉条纹 DvTbt?i[ hDbZ62DDN 6wb M$|yFj 文件信息 hP/uS%X `Mo%)I<`= 7>gW2m
QQ:2987619807
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