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摘要 G8c}re
U`4Zj1y 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 +|w~j#j9` Xg#([}b 建模任务 U"G+su->e Z#V\[ J)&+y;. 元件倾斜引起的干涉条纹 4Lq]yUj W@}5e-q)O I:7,CV 元件移位引起的干涉条纹 ! yUKNR f6C+2L+Hr ,Yt&PE 文件信息 Yx/~8K_%M? 'bO? =+c 71ybZ 0
QQ:2987619807
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