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摘要 ompr})c wMCMrv: 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 QIkFX.^ P;I,f 建模任务 ;&j'`tP F\JS?zt2 .@&FJYkLYi 元件倾斜引起的干涉条纹 6n2RT H w@-G_-6W y05!-G:Y\ 元件移位引起的干涉条纹 T/|!^qLF HMUx/M.j KcV"<9rE 文件信息 .$-;`&0cZ 9mDdX t_Eivm-,B
QQ:2987619807
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