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摘要 -f>'RI95> 0Oxz3r%}r 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 R9dP ,<2 CMVS W6 建模任务 \ElX~$fS Dx+K+( 3;/?q 元件倾斜引起的干涉条纹 u}jrfKdE SE `l(-tL X-Ycz 5? 元件移位引起的干涉条纹 \KM|f9-b =Sxol>?t %xg"Q| 文件信息 w=J4zkWk 2w1tK P#tvm,
QQ:2987619807
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