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摘要 ;>h:VnV(>( X16r$~Pb 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 +pJ~<ug] ]5j1p6;(` 建模任务 vy1N,8a '=]|" `& }C*i" 元件倾斜引起的干涉条纹 ThJ`-Ro _$BH.I 299uZz}Y 元件移位引起的干涉条纹 >'2=3L^Q nTxN>?l2E ,S\AUUt% 文件信息 hR%2[lBn!] C+X-Cp f^9ntos|
QQ:2987619807
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