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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 waG &3m  
     c~d*SDca  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ES#q/yab5  
    a, `B.I  
    建模任务 z_). -  
    ~8'HX*B]z  
    @JOsG-VW~  
    元件倾斜引起的干涉条纹 "o@R}_4]q  
    %v^qQWy=*  
    *48LQzc  
    元件移位引起的干涉条纹 I,V'J|=j  
    k1LbWR1%wB  
    uL^X$8K;(  
    文件信息 F |_mCwA  
     v4\ m9Pu4  
    [Uj,, y.wB  
    QQ：2987619807
     
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