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    离线infotek
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 `m#-J;la  
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    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 |.,]0CRg  
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    建模任务 @R}3f6@67  
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    元件倾斜引起的干涉条纹 $[}EV(#y  
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    元件移位引起的干涉条纹 u7^(?"x  
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    QQ：2987619807
     
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