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摘要 Ifq|MZ\ (~(FQ:L%U 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 "V,dH%&j h}}7_I9 建模任务 iphdJZ/f @?</8;%3W aw7pr464 元件倾斜引起的干涉条纹 Y"dTm;& [7[$P.MS{ i6i;{\tc 元件移位引起的干涉条纹 $GVf;M2* `g{eWY1l $$R-> 文件信息 7j"B-k# , _ xJ9_ f%REN3=5K
QQ:2987619807
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