-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-09-04
- 在线时间1983小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 a3dzok *- IlF] 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 a}qse5Fr ?+,*YVT 建模任务 DPS1GO* :O'C:n<g W^d4/] 元件倾斜引起的干涉条纹 .W@4vrp@ F'>GN}n B==a 元件移位引起的干涉条纹 WW[`E ELrZ8&5G R2Rstk 文件信息 Fi?Q
4b le^_6|ek 4)odFq:
QQ:2987619807
|