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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 bZ``*{I/  
     TBRG D l  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ]hoq!:>M1  
    -Tn%O|#K  
    建模任务 GR4DxlX  
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    oR/_{#Mz"  
    元件倾斜引起的干涉条纹 ={+8jQqi1  
    kX8NRPW  
    DUh\x>^  
    元件移位引起的干涉条纹 *>1^q9M  
    vm'ZA7f6  
    lW|v_oP9  
    文件信息 T[#q0bv  
     -4zV yW S<  
    4 Tw~4b  
    QQ：2987619807
     
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