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摘要 5e6 f)[} fMy7pXa_ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 C5$1K'X@ eE '\h 建模任务 >iDV8y vm_+U*%c IR(qjm\V 元件倾斜引起的干涉条纹 )\8l6Gw B~G?&"] :D""c* 元件移位引起的干涉条纹 M| :wC [2"a~o\ hQv~C4Wfrf 文件信息 KY~p>Jmh gG!L#J? tt$DWmm
QQ:2987619807
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