-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-06-11
- 在线时间1779小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 b`D]L/}pr A/2$~4, 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 igA?E56? &Jj|+P-lY 建模任务 "ymR8y' Ue9Y+'-x
{Z8GG 元件倾斜引起的干涉条纹 E7iAN\vo uxD3+Q JH]S'5X8K 元件移位引起的干涉条纹 GxD`M2 (@XQ]S}L &mVClq 文件信息 mA$y$73=T 0)d='3S JK<[]>O
QQ:2987619807
|