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摘要 Q0Gfwl dE(d'*+a 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ]!@!qp@ ^Je*k)COn 建模任务 XU}" h&> UG6\OgkL+ i-x/h- 元件倾斜引起的干涉条纹 s2nZW pIy u#->? )EN,Ry 元件移位引起的干涉条纹 -3XnUGK uYd_5
nw %Wc$S]>i 文件信息 q?f-h<yRQ @*$"6!3s5 >.REg[P
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