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摘要 80}4/8 HyEa_9
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 6 Uw;C84! Aq"PG}Ic 建模任务 g5}lLKT VHW`NP 5Jl $T),DUYO 元件倾斜引起的干涉条纹 t!{x<9 N<liS3> lUHtjr 元件移位引起的干涉条纹 e\r7BW\Y UfKkgq# )Oiev u_"| 文件信息 xl8#=qmCD J)*8|E9P 1"O&40l
QQ:2987619807
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