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摘要 ?*AhGza/
2^w8J w9 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 @js`$ ^tFlA) 建模任务 M!tR>NMH tn38T% #IvHxSo& 元件倾斜引起的干涉条纹 um,G^R + *)Kyk D]=V6l= 元件移位引起的干涉条纹 [zJ|61^
i"`N5 zFi)R }Ot 文件信息 w!_6* -JfqY?Ue_2 N(J'h$E
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