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摘要 o<J6KTLv ?E_;[(Mcr 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 >&Oql9_ xmEom 建模任务 _g
fmo Q-!gO qp)Wt6 k? 元件倾斜引起的干涉条纹 c_CVZR? 'l`prp3 rQ_]%ies8 元件移位引起的干涉条纹 zfE8=d8U #Q)r6V: s*_fRf: 文件信息 WR`NISSp !4cY^4>o yci} #,nb
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