-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-07
- 在线时间1825小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 RN0=jo!58
!=w&=O0( 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 JM?X]l LAT%k2%Wx 建模任务 u^!c:RfE? It
.` F3L'f2yBG 元件倾斜引起的干涉条纹 Cm5:_K`;] 6]*~!al? Q5:8$
C}+ 元件移位引起的干涉条纹 vS$_H<;P _,m|gr,S 5lc%GJybV 文件信息 kA1C& '"/Yk=EmlU M_Qv{
QQ:2987619807
|