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摘要 hk(ZM#Bh 6S'yZQ|b 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 I {S;L h5{'Q$Erl 建模任务 G_3O]BMKd) */)c?)" !*F1q|R 元件倾斜引起的干涉条纹 fo*2:?K& SO|NaqWa fNli 元件移位引起的干涉条纹 5,Jp[bw{H{ zU kgG61 ^pAAzr"hv 文件信息 UUYSFa% axv>6k 8`q:Gz=M\
QQ:2987619807
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