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摘要 Lsb` ,: !<#,M9
EA& 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 d;FOmo4 ,|G~PC8 建模任务 * ,#SwZ RHv|ijYy YM.Q?p4g 元件倾斜引起的干涉条纹 :-)H
ty zf ;@$v_i :F`-<x/ 元件移位引起的干涉条纹 fZka$
4 T6M=BkcP TKs l.| 文件信息 9[,+4&wX7
O3~7 :xy4JRcF
QQ:2987619807
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