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摘要 >T3HkOT :b+C<Bp64r 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 3\eb:-B:@ Ko% &~C_ 建模任务 75vd ]45as ;c73:'e K~$o2a
e 元件倾斜引起的干涉条纹 n y6-_mA] 2%g)0[1 ?! dp0< 元件移位引起的干涉条纹 H?8uy_Sc Ikiv+Fq( hNXP-s 文件信息 GCul6,w T1m097 `T $lTP
QQ:2987619807
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