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摘要 GUat~[lUrj >47,Hq:2 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 |BYD] vK `5 e#9@/e 建模任务 Vg[U4, wm2Q(l*HH %t+V8A 元件倾斜引起的干涉条纹 }aX).u o]Vx6 Y,E:? 元件移位引起的干涉条纹 `m'2RNSc+# JI\u -+BE #On1Q:d 文件信息 B)^]V<l(w Vi#(x9. 2?-}(F;Z
QQ:2987619807
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