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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 =C<_rBY  
     Eer rIV  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 (MNbABZQ  
    v>7=T 8  
    建模任务 ']}ZI 8  
    7z F29gC  
    -] J V  
    元件倾斜引起的干涉条纹 o1I{^7/  
    5;dnxhf  
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    元件移位引起的干涉条纹 ?N$  
    X<Vko^vlj  
    7c+TS--  
    文件信息 a8Ci 7<V  
     roW8 4x  
    + s1mm c  
    QQ：2987619807
     
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