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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 ;>Y,b4B;  
     B<(v\=xZ  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 y ?]G OQI  
    .)|r!X  
    建模任务 x|n2,3%  
    mR:G,XytxM  
    +[Nc";Oy  
    元件倾斜引起的干涉条纹 w+ gA3Dg  
    #>C.61Fx  
    2/O/h  
    元件移位引起的干涉条纹 H2`aw3  
    Xu $_%+46  
    <Hl.MS  
    文件信息 wMNtN3   
     &yN@(P)  
    LL@VR#n"V  
    QQ：2987619807
     
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