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    [分享]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-04-16
    摘要 F:"CaDk  
    R"Q=U}?$  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 HWe?vz$4"  
    md`PRZzj@  
    建模任务 O 0Fw!IQk  
    xf1@mi[a  
    9IFK4>&O6  
    元件倾斜引起的干涉条纹 YGy.39@31  
    GX4HW \>a  
    \!HG kmd  
    元件移位引起的干涉条纹 ia.95H;  
    'J+dTs ;0  
    Gc=#  
    文件信息 QdaYP  
    YJZVi ic  
    _jmkAmeu  
    QQ:2987619807
     
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