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摘要 F :"CaDk R"Q=U}?$ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 HWe?vz$4" md`PRZzj@ 建模任务 O 0Fw!IQk xf1@mi[a 9IFK4>&O6 元件倾斜引起的干涉条纹 YGy.39@31 GX4HW \>a \!HGkmd 元件移位引起的干涉条纹 ia.9 5H; 'J+dTs;0 Gc= # 文件信息 QdaYP YJZViic _jmkA meu
QQ:2987619807
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