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摘要 "J9+~)e^! K^S#?T|[9 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 'e)t+ ;H^!yj5H 建模任务 ~$$V=$& #/:[ho{JQ oOlI*/OMb 元件倾斜引起的干涉条纹 gLH(Wr~(a (Gc5lMiX3 :\[F= 元件移位引起的干涉条纹 y^
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