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摘要 7HYwLG:\~ ;
BHtCuY 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Cq~dp/V ]Zh%DQ 建模任务 mQ"-,mMI V(!V_Ug9. U| R_OLWAg 元件倾斜引起的干涉条纹 KF:78C ~*];pV]A[ =[ 7A v> 元件移位引起的干涉条纹 4;2uW#dG" NC6&x=!3 U 8$27jq 文件信息 5*u+q2\F \1M4Dl5! gL/9/b4
QQ:2987619807
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