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摘要 [!<W{ ($5 0m,3''Q5lO 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 A#&,S4Wi| )6t=Bel 建模任务 3YFbT
Z k)a3j{{ RqONVytx 元件倾斜引起的干涉条纹 R)>F*GsR jQV.U~25Q ~8j4IO( 元件移位引起的干涉条纹 %VSjMZ ~+HZQv3Y 6>hW.aq} 文件信息 _wY<8 F* dw"Tv~ H2cY},
QQ:2987619807
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