角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:1430
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 Jx[Z[RO2  
sXxF5&AF0  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 +*-u_L\'  
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特征及技术参数 g(m3 &  
w. exLC  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, P<yd  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) .n]P6t  
-  入射光与探测器可共面或异面。 +V*FFv  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 8_WFSF^  
-  可对样品进行扫描。 ]p>6r*/nw  
-  动态范围: 13个数量级。 QHnk@ R!  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Pda(O;aNU  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 fwB+f` w`  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 &z;F'>"  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 l9 RjxO.~U  
-  方便操作的测量及分析软件 x gP/BK2"  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 3#vhQ*xU  
RkP g&R;i  
应用 <*u[<  
\2,7fy'  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 H^P uC (  
-  产品质量检测。 !Tuc#yFw  
-  光学性能分析。 o<2H~2/  
-  粗糙度分析。 _ h\wH;  
仪器咨询QQ:939912426 * Zb-YA  
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