角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:924
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 M~Dc5\T  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 1xV1#'@[Jd  
n.UM+2G  
特征及技术参数 sW3D ( n  
b/}0 &VXo  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, #_sVB~sn@  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) 4xn^`xf9  
-  入射光与探测器可共面或异面。 :+^llz  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 I[IQFka}  
-  可对样品进行扫描。 R* G>)YH  
-  动态范围: 13个数量级。 Tka="eyIj3  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 oOSyOD  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 4n)Mx*{  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 `ViNSr):J  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 >mSl~.I2  
-  方便操作的测量及分析软件 0=zS&xM  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 :@A;!'zpL  
S2SQ;s-t_  
应用 M +q 7h+HP  
19`0)pzZ*P  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 -^Va]Lk  
-  产品质量检测。 J0bs$  
-  光学性能分析。 0DT2qM[,  
-  粗糙度分析。 .u3W]5M|  
仪器咨询QQ:939912426 R}<s~` Pl  
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