角分辨散射测量仪ALBATROSS

发布:summer20200907 2021-03-25 10:49 阅读:1172
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 J)f?x T*  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 F"I@=R-n  
-K4RQ{=>UZ  
特征及技术参数 \!Pm^FD .  
S5M t?v|K  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, V#Eq74ic  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D)  VPzdT*g]  
-  入射光与探测器可共面或异面。 K[Kc'6G  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 NKN!X/P  
-  可对样品进行扫描。 14O/R3+  
-  动态范围: 13个数量级。 :a2?K5  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ,0O!w>u_]J  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 6iOAYA=  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 A,@"(3  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 1l{n`gR  
-  方便操作的测量及分析软件 yuWrU<Kw  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 Q&7Qht:ea:  
iZF{9@  
应用 Y|bGd_j  
~V4|DN[I  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 5NK:94&JE  
-  产品质量检测。 =Vfj#WL  
-  光学性能分析。 e5Z\v0  
-  粗糙度分析。 ,;g:qe3D$  
仪器咨询QQ:939912426 TzjZGs W[V  
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