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摘要 mQ[$U \nl(tU#j 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 S$mv(C q}{E![ZTu
U&^q#[' &W<7!U:2m 建模任务 R/hf"E1 iU)I"#\l'k ,Z`}!%? 概述 \""^'pP@ D!j/a!MaKk •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Kd\0nf6 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 PgBEe
@. p Cz6[*kC
@C;1e7 _4S^'FDo
光线追迹仿真 q<YM,%mgj A7p4M?09 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 -U|c~Cqc •单击go! C=?S •获得了3D光线追迹结果。 Sn=6[RQ>P ]S2rqKB
Y{Z&W9U B,>02EZ 光线追迹仿真 'E|%l!xO r%,?uim# •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 qGinlE&\ •单击go! #:)'D?, •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 EC+t-:a] OSu&vFKz
N?\X2J1 )_#V>cvNG 场追迹仿真 +B? qx
Q ?ANWI8'_j •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 M.}9)ho •单击go! Jh"[ug 15:9JVH3D )nN!% |J 4^7 v@3
场追迹仿真(相机探测器) G ek?+|m %YG?7PBB •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 w2LnY1A •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 &V38)83a yF)o_OA[uR
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Kkpp- ~Ntk-p 场追迹仿真(电磁场探测器) $|$@?H>K •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +t!]nE# y0%@^^-Ru Mh%{cLM @-@Coy 4Tt 场追迹仿真(电磁场探测器) (UkP AE ~j!n`#.\ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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