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摘要 =@V4V} ? )d0&iE`@ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 *sB=Ys? c3i|q@ k
\f0I:%- 8~\Fpz|Og 建模任务 8r)eiERv C6CX{IA] DQH _@-q 概述 u\&oiwSIP $*8c0.{U •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Af
^6 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 {Am\%v\ Z(*nZT,
a%Cq?HZ7 ?GB($D=Y'& 光线追迹仿真 (Qq! u M+)%gnq`u •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 +5?sYp\ •单击go! [WX+/pm7> •获得了3D光线追迹结果。
6bo,x U|-4*l9Ed
0%`\8 WO^smCk 光线追迹仿真 VH,k EbJ f+%J=Am •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 6<sB •单击go! hH )jX`Ta •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 f![x7D$ 52wq<[#tK
?VS {,"X JR'Q Th:z 场追迹仿真 )|uPCZdLZ dUOjPq97 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 eey <:n/Z •单击go! ?ti7iBz? /M v\~vg$1 m$pXe< zrRt0}?xl 场追迹仿真(相机探测器) T!(I\wz;Bo /PQg>Pa85 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 91mXv Q:u •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 V4/P
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DtXXfp@; w v9s{I{P 场追迹仿真(电磁场探测器) h7[VXE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 1K09iB 1fViW^l_ 7ABHgw~?8r >`'#4!}G5j 场追迹仿真(电磁场探测器) iDp]lu pb_mW;JVu •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~k|~Q\ tvf"w`H
`:i|y 3vQ?vS|2 文件信息 ZJ=-cE2n SO]x^+[
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