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摘要 {Z-5 R8":1 #& 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 |mMW"(~ ~a/yLI"'g
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~zsh *2;w;(-s 建模任务 v,g,c`BjK \?g)jY ^+,mxV'8! 概述 eYsO%y\I 4I {|M,+ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 !aLByMA •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;=B&t@ M}38uxP
^z0[{1 $2;YJjz( 光线追迹仿真 j
q1qj9KZ &w/aQs~ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 m#%5H •单击go! b3Y9 •获得了3D光线追迹结果。 Z)6bqU<LQE nwO;>Qr
f$(w>B7.. 7(gQ6?KsZ 光线追迹仿真 BT`/OD@ $XT&8%|*7 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 iW)FjDTP •单击go! N;Hf7K •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ijyj}gpWha Q#:,s8TW[
$9Z8P_^.0( ]IyC 场追迹仿真 rl4daV&,U (qB$I\ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 go{'mX) }u •单击go! hnE@+(d=qJ 1s!hl{n<~ IybMO5Mwn wXNFL9F8 场追迹仿真(相机探测器) <niHJ* &a48DCZ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 6PJ0iten •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 /!7m@P|&D )5yZSdA
aEX+M57k~ j g$%WAEb 场追迹仿真(电磁场探测器) B8w0DJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 qx`*]lX o{zo-:>Jp WOgbz&S?J 6S`eN\s 场追迹仿真(电磁场探测器) :/Sx\Nz78 -V4@BKI8 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 xj%h-@o6 a*%>H(x
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7dIE t3U*rr|A 文件信息 9>%f99n Cww$ A %}
2}509X(* c&F"tLl 更多阅读 e ~*qi&,4 i:{a-Bd -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer tr/S*0$ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination *,pG4kh! ,{:5Z:<| Ng+k{vAj QQ:2987619807 Hyq|%\A
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