-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-10-30
- 在线时间1996小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 `)xU;- xX=IMM3 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 vYTPZ@RL .\hib.n3
|]
f"j': :[ZC-hc\ 建模任务 <8xP-(wk; eG2qOq$[ k%4A::= 概述 f%"_U' Wcay'#K, •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 sD8xH •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 {D_4~heF e&]`X HC9
b~jvmcr 86)
3XE[5 光线追迹仿真 wW)&Px
n 2w.9Q
(Sn •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 'c+qBSDA •单击go! 5/eS1NJ@ •获得了3D光线追迹结果。 ~IN$hKg^ H)}1xQ{3F
ch2e#Jf8 7{/:, 光线追迹仿真 4)I/\ VRN9 yn2 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Wx\"wlJ7.3 •单击go! E0?\DvA •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 uB)6\fkTB ?jM7C}
1V9X(uP R`3>0LrC8 场追迹仿真 )PZ}^Fa W3-Rs&se •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 06W=(fY •单击go! ,IvnNnl2 JSZj0_B `"-!UkD+ qYrGe 场追迹仿真(相机探测器) ;[\2/$- .j4ziRa- •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 _"t.1+-K •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 BU?MRcHC m
?tnk?oX
$.]t1e7s F'_8pD7 场追迹仿真(电磁场探测器) c(=O`%B{ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D]`B;aE>A* HG6{`i u2\qg;dP |JQP7z6j] 场追迹仿真(电磁场探测器) $5AtI$TV_! nR'EuI~(} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ,* vnt6C* cz~FWk
*R6eykp _89G2)U=C 文件信息 1? hd ={0{X9t?'j
A,[m=9V R;,HtN 更多阅读 l6U' <ORz`^27o -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer snNg:rTL -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination s(9rBDoY(8 @Lv_\^2/} +VCo=oA QQ:2987619807 $i]
M6<Vxn
|