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摘要 8vqx}2 )lZoXt_3 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Zk ] /m \@B'f
[nASMKK0 H):(8/>( 建模任务 (L<qJd1Q pf$gvL #IR,KX3]A 概述 iY*fp=c9 p|+TgOYOc •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Jo''yrJpB •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 8I[=iU7]l oJ?,X^~_
U'aJCM es^@C9qt 光线追迹仿真 jS ?#c+9 wZfY~ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 rS8}(lf •单击go! ,@kLH"a0 •获得了3D光线追迹结果。 $p|Im, s}F.D^^G
=m;,?("7t3 <?>tjCg' 光线追迹仿真 ;ObrBN,Fu "H#pN;)+ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 uJ`:@Z^J •单击go! :s*t\09V7 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2m^qXE$ 6WX?Xc]$3
-AN5LE9- d$^@$E2f 场追迹仿真 -tIye{ ^8KxU •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 <JIqkGeAi •单击go! I?RUVs d uP0US ,BFw-A =QK ucLo 场追迹仿真(相机探测器) w3;{z ,,T .k$Yleg •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 NxSSRv^rx •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Y-lwS-Ii #jJ0Mxg
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fel 场追迹仿真(电磁场探测器) $_3)m •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :k-@w5( ;d<O/y,:4 W[R`],x` wrc1N?[bn 场追迹仿真(电磁场探测器) &@FufpPw/ z%BX^b$Hj •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Jd~M q9( &dPUd~&EL
I@5$ <SN B2Rpd &[ 文件信息 5g.w"0MkY MV w.Fl
Xvk+1:D e,Z[Nox 更多阅读 I:w+lchAMe ayh235>a( -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer %g^:0me` -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination wwv+s ~(0 yY{ EI)2c.A QQ:2987619807 Q eN7~ J
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