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摘要
]@ruizb8 |$\K/]q- 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 5n?P}kca) '>
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wQG?)aaM x=cucZ 建模任务 <|l}@\iRX lqfTF R=~%kt_n 概述 #
>k|^*\ V;ea Q •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 -6+7&.A+ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 &{e ]S!D TVNgj.`+u!
'i%r WkXgz6 P 光线追迹仿真 Po58@g MsXw
8D •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 0!,uo\` •单击go! ~Ykn|$_"I •获得了3D光线追迹结果。 kqCsEtm] %M`48TW)
E!ndXz 59 ktrIi5B 光线追迹仿真 hdDT'+ "AUSgVE+h •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 `h@fW- r •单击go! @Fc:9a@ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ":
vGs_$ 4|K\pCw
g4A{RI T3fQ #p 场追迹仿真 %)7t2D Aax;0qGbH •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 kBZ1)? •单击go! bY#BK_8 : BP9#}{kE ir<e^a Os<E7l zqO 场追迹仿真(相机探测器) >[Vc$[62 _Gq6xv\b1 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Kn:Ml4[; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 8</wQ6&| -Fd&rq:GB(
+4-T_m/W/ |^l_F1+w 场追迹仿真(电磁场探测器) mcQL>7ts •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 l(NQk> w AY5iTbL1 u79- B-YW^ e4` L8 场追迹仿真(电磁场探测器) 3'.@aMA@ J-
S.m( •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 1<G+KC[F N#l2wT
67iI wY*8' jae9!Wi 文件信息 I Id4w~| -g~+9/;n
@#4-4.6I<x aB6xRn9 更多阅读 J> i3,.E]/wX@ -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer @F5Af/ -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination zzZEX m}'_Poc bqE'9GI QQ:2987619807 ^;_~mq.
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