-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-07
- 在线时间1825小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ZpwFC7LW cA90FqUH 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 2UBAk')O} (;N#Gqb6l
1l.HQ IS ++|e
z{ 建模任务 >Gvd?r |k: FNu]C b:
I0Zv6 概述 P;IM -] !H9zd\wc •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 IY@N •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 [| C &5%~Qw..
1CUI6@Cz) >5t]Zlb` 光线追迹仿真 5E${ a{.-qp •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 , LqfwA| •单击go! ABq#I'H#@2 •获得了3D光线追迹结果。 @[TSJi LS<*5HWX
GCxmqoQ q9Lq+4\ 光线追迹仿真 ]-OF3+l4 <^e •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 QC1\Sn / •单击go! l%
{<+N •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 UQBc$`v mU>lm7'
%)o;2&aD * YLpC^& 场追迹仿真 fDChq[LAn N1l^%Yf J •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 hz-^9U •单击go! LiEDTXRz A%EGu4 =o[H2o
y XU`vs`/ 场追迹仿真(相机探测器) J
c:j7}OOV uLt31G() •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 'pT8S •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 k!g%vx 2:1
kSR^Ky
6 _#C vQ e8)8QmB{o 场追迹仿真(电磁场探测器) @CA{uP; •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 #\6k_toZ `bNLmTS Gr~J-#a3~D yDi'@Z9R? 场追迹仿真(电磁场探测器) F^!_!V B E$4Ik.k •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 lt{"N'Gw6 v;Rm42k
R1Q~UX]d= q)RTy|NJ^ 文件信息 9lqD~H. z[]8"C=
vZ|Wj] ;o X1&c?T1 %[ 更多阅读 /,+&O#SX odTIz{9qG -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 0He^r
&c3 -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination &[[Hfs2:-] W'5c%SI O?Qi QQ:2987619807 !PEP`wEKdp
|