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摘要 J7Hl\Q[D1 lc1(t:"[ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 `*cxH.. m{cGK`/\
CMG&7(MR *:LK8U 建模任务 li'YDtMKCY J~zUp(>K '/n1IM$7 概述 :W.(S6O( {{D)YldtA •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Y^;ovH~ ve •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 FF(#]vz ' r,1!?s^L
(pCrmyB RYQR(v 光线追迹仿真 M2>Vj/ tGh~!|P •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 fo#fg8zX% •单击go! 6azGhxh •获得了3D光线追迹结果。 i$:*Pb3mV c"n\cNP<
FaQe_; 2W96Zju\ 光线追迹仿真 G )trG9 .a oim9<_ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 +\c5]` •单击go! F|o:W75 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 +ocol6G7W Yz/md1T$
mzaWST] 0d"[l@UU0 场追迹仿真 nwB_8mN| 4n!aW?% •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 4$iz4U:P •单击go! LqoB 10Kc\ F3v!AvA| B:;pvW] I {S;L 场追迹仿真(相机探测器) h5{'Q$Erl <;eW=HT+uq •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?cBwPetp •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 hYT0l$Ng fo*2:?K&
G7`ko1- [fya)} 场追迹仿真(电磁场探测器) 6y%qVx#! •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Bw)/DM] LEbB(x;@ N
,'GN[s g|DF[ 场追迹仿真(电磁场探测器) d6?j`~[7#- t9k zw*U9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 W7R< |