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摘要 ?}'N_n ys 5/B#) gm 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {ExII<=6 t_jyyHxoZ:
Hp btj [D3+cDph 建模任务 c ]>DI&$;J >u=%Lz"J [ rQMD^:M$ 概述 #^|| ]g/N WD15pq l •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 )|y#OZHR •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 CifA,[l34 2E^"r jLm
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光线追迹仿真 :KEq<fEI 9s!
2 wwh •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 `6&`wKz •单击go! b,#`n •获得了3D光线追迹结果。 8h2D+1,PZC vqq6B/r@Fu
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x 光线追迹仿真 sffhPX\I B@-|b •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ?4^};wDb2 •单击go! N99[.mErU •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 p-.Ri^p 4~!Eje!
{'NBp0i mge#YV:: 场追迹仿真 ~?gzq~~t E W`W~h[ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 *oCxof9JA •单击go! P{?;T5ap6 d$w(-tV42 ;; :">@5 Gb;99mE 场追迹仿真(相机探测器) tl|ijR S+r^B?a<oM •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ".gNeY6)x •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 KYp[Gs nE_Cuc>K\
Hb+X}7c$ u t$c)_ 场追迹仿真(电磁场探测器) a0PE^U •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Oukd_Ryf /0(%(2jIWl _6ZzuVv3/ jgG$'|s} 场追迹仿真(电磁场探测器) GMl"{Oxo& }MP>]8Aq •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Xx_tpC? ?ty>}.c t
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