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摘要 :]-? l4(% 0%5x&vx'S 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 TkV$h(#!f& l%9nA.M'
:Qklbd[9qF aoS]Qp 建模任务 e3 {L%rQE von~-51; 4!tHJCq" 概述 g63?(+Fz -}r(75C •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ti9cfv> •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 xn)r6
js8\"
;t}ux ,JmA e6 光线追迹仿真 hX@.k|Yd A[m4do •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 &tw
•单击go! +qEvz<kch •获得了3D光线追迹结果。 G0eJ<*|_ 3 ;j/-ndd&&
CmPix]YMQ P=9Zm 光线追迹仿真 /A) v$Bv= `?L-{VtM3* •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 :}18G}B •单击go! JSQ*8wDcl •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 _[W`!#" kV Z5>D$
;.r > }AfK=1yOa 场追迹仿真 !S',V&Yb ;{~F7:i •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 6\9 9WQ •单击go! `'`T'+0 ')w*c -j_J1P0, VNbq]L(g 场追迹仿真(相机探测器) &xqr&(o V ;)q?ZHg •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ngN_,x7yc •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Th%1eLQ p=(;WnsK
:/IcFU~)M 8EPV\M1% 场追迹仿真(电磁场探测器) .SdEhW15) •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 HYPFe|t/ e+F5FAMR68 RfB""b8]= ^"%SHs 场追迹仿真(电磁场探测器) r\"O8\ $0Y&r]' •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %zyMWC (K+TqJw
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cg 文件信息 J7.bFW' OR^Wd
K`FgU7g{ Sh]x`3 ). 更多阅读 kI3-G~2 .so{ RI -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer zHB{I(q -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination t{>66jm\R ~]/X,Cf N)h>Ie QQ:2987619807 XI\aZ\v
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