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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-19
    摘要 4(, .<#  
    $l)RMP}  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 MVM Jl">  
    MY{Kq;FvRP  
    =X(N+(1~  
    w5q6c%VZ  
    建模任务 =9,mt K~  
    Q:) 4  
    (f"Qz~R|6_  
    概述 =0&XdxX  
    ecm+33C  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 T.De1 Q|  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 hcU^!mp  
    V@+sNM  
    oBmv^=cH  
    +;!^aNJ,  
    光线追迹仿真 ~~Cd9Hzi  
    lLVD`)  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 zk }SEt-  
    •单击go! 7/&taw%i  
    •获得了3D光线追迹结果。 &pl)E$Y  
    ]l }v  
    L]=mQo  
    )%/ Ni^  
    光线追迹仿真 j^/<:e c.  
    Wv3p!zW3I  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 [*K9V/  
    •单击go! n{|j#j  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 {<IHiB35q  
    H^*[TX=#[  
    bPV}T`  
    s4 , `  
    场追迹仿真 ZLaht(`+  
     Dt5AG  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ;t N@  
    •单击go! Lniz>gSc  
    WjVm{7?{  
    M+-odLltw  
    JWu0VLo  
    场追迹仿真(相机探测器) Hj-n 'XZ  
    PtPx(R3  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 {2xc/   
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 [C ezz5  
    g:^Hex?Yfd  
    E08!a  
    Mj0jpP<uf  
    场追迹仿真(电磁场探测器) r"L:Mu  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 cgcU2N6y;  
    sNG 7fi.|  
    {o'(_.{  
    JWM4S4yZHR  
    场追迹仿真(电磁场探测器) (<`> B  
    UM1h[#?&V)  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 0kp{`3ce  
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    文件信息 yqb$,$  
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    更多阅读 w$qdV,s 7  
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    QQ:2987619807 R-Tf9?)  
     
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