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摘要 v,@E}F~-f1 2tlO"c:_/ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 d<)s@Ntgm w-8)YJ Y
K-ju ,4A pIrv$^ 建模任务 "Vq@bNtu+ N)Qlkz$X lP-kZA! 概述 ~|J*E38 GZ}*r{ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?\l!]vu* •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 =54Vs8. Ty(yh(oYF`
{m>~` re2Fv:4{ 光线追迹仿真 +EQpD. fjF!>Dy
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Rqt[D @;m •单击go! >zN"
z) •获得了3D光线追迹结果。 kz3?j< D'Jm!Ap
[Ja(ArO3|[ m.|qVN 光线追迹仿真 Bl:{p>-q Kn3YI9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 fB@K'JQG •单击go! P((S2"D<4 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 KLj 4LOs GC,vQ\
[ ((h<e 3m?@7 F 场追迹仿真 1
yxZ xop-f#U* •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ?nj"Ptzs •单击go! ^/ULh,w!fP YY1{v?[ w+URCj r|u6O F> 场追迹仿真(相机探测器) |SwZi'p !-
Cs? •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 $l0eI •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 5( mCBH mdmZ1:PBM
401/33yBJ Ncs4<"{$ 场追迹仿真(电磁场探测器) EIy]qAE:f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 QE`:jxyad ui0J}DM d&$.jk8 2 !HT> 场追迹仿真(电磁场探测器) &m |