-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-29
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 `<.
7? nI((ki}v 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 yL^M~lws 3uB=L7.
7R%
PVgS4x x0N-[//YV 建模任务 y$+!%y* 9u-M! $ eP-R""uPw 概述 xF\}.OfWG p0%6@_FT~ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 A,-[/Z K/ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 fJ|Bu("N V{/)RZ/
M9ter& _ d(Ks9 光线追迹仿真 FcJ.)U M4L~bK •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 .~V".tZV[ •单击go! Rz])wBv e •获得了3D光线追迹结果。 g(z#h$@S ;'Z,[ a
[5}cU{M MfZ}xu 光线追迹仿真 -Lz1#S k]A * 7zN •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 wUZ(Tin •单击go! GT1 X •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 _mI:Lr#dT iYmzk?U
{U+9,6.` ?()E5 4y 场追迹仿真 wKeSPs{x qU
/Wg •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 (pRy1DH~ •单击go! 0N}
wD- " N`V*0h o+6^|RP [4+a 1/^ 场追迹仿真(相机探测器) JXI+k.fi h\: tUEg#J •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 dKN3ZCw*gF •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 gP_d>p:b w$<fSe7
aF4V|?+ e5:l 6` 场追迹仿真(电磁场探测器) !MG>z\: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
m%[2x# #/
gme Vms7
Jay _,-M8=dL%* 场追迹仿真(电磁场探测器) UU:QK{{E KH 6n3 \= •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 yU&g|MV_ QeOt;{_|
*F4G qX3 OB? 79l 文件信息 $BO}D s"^YW+HMb
.tHv4.ob d9e H}#OY 更多阅读 ju2X* "
:nVigw& -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer oT5rX
,8 -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 5IF~]5s %;\2QI`R S r#fyr QQ:2987619807 YaE['a
|