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摘要 9 aK U}y @CoUFdbz 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {CFy
% j8^zE,Z
bXqTc2>= <Ynrw4[)t 建模任务 ,-DU)&dF }j!C+i Tl+PRR6D* 概述 lAGntYv C 7YS>?^] •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 q%,y66pFr •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;hh.w?? Ag&K@ %|*
~4xn^.w CBz=-Xr 光线追迹仿真 v] m`rV8S[ kL<HG Qt •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {s6hi#R> •单击go! {!! 8 *ix •获得了3D光线追迹结果。 `(6cRT`Wp P0k.\ 8qz
.B'ws/%5\ }1Q>A 5e 光线追迹仿真 ofs Lx6Po xqauSW •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 -MORd{GF •单击go! /J(~NGT •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 :'[ha$ $+,kibk*R
i@ 86Ez n]>L"D, 场追迹仿真 (
efxw k ,ezB+ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 LC e6](Z •单击go! LKZv#b[h v+( P 4fS 9V;A+d, _:Jma 场追迹仿真(相机探测器) phwBil-vUU AtqsrYj
•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >LB*5 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 dqi31e{*2\ xS=" o
r?pN-x$M= kZR(0,
W 场追迹仿真(电磁场探测器) "s@q(J •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 b=SCyGxlZ5 ~K
('t9| `1#Z9&bO JZJb&q){ 场追迹仿真(电磁场探测器) AE Abny
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F'@9kdp =%B}8$.| 文件信息 Sae*VvT6 o?I`n*u"X
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q -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination |\)Y,~;P (@bq@0g ET%F+ QQ:2987619807 FS*J8)
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