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摘要 XR+2|o duM>(y 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 B^OhL!*tI z6Hl+nq B
EEaFi8 B>'\g
O\2 建模任务 yf$7<gwX 59)PJ0E %URyGS]* 概述 Gh< r_O~L3 oi!E
v_h •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 BvYJ!Vj •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 [m4<j CR_A{(
`,|7X]%b @Wv*` 光线追迹仿真 n.T
[a Io:xG6yG •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 }b{N[ •单击go! t4Z.b 5g •获得了3D光线追迹结果。 y<gmp rzex"}/ly
r+U-l#Q :8rqTBa` 光线追迹仿真 R` N-^x 6dNo!$C^ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Z$@Juv&>5^ •单击go! `fL$t0" •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 4A*'0!H uX p0D$a
+Oxl1fDf A /o=a# 场追迹仿真 w</kGK[O !W6]+ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 >Rr]e`3wG •单击go! NTn-4iJy j#Y8h5r 5ecqJ U>{z*D 场追迹仿真(相机探测器) t[X'OK0W%3 O/FQ'o1F •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \ET7 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 F&uU
,); zIlQqyOQ8
tewC *%3V )Z]8SED 场追迹仿真(电磁场探测器) x&7!m
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 P ^D\znvc qEywExdiu Wx^L~[l [rf.P'p% 场追迹仿真(电磁场探测器) k<AnTboa pE`BB{[@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 h>fY'r)DAx B>JRta;hj
AJj6@hi2P j]jwQRe 文件信息 QupCr/Hs zHyM@*Gf(
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