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摘要 x6*y$D^B
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 6}VFob#h8 oo BBg@ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 aqWlX0 +
iSUu3Yv,_m 建模任务 |5ge4,}0
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 ec/>LJDX7 Z} t^i^u 由于组件倾斜引起的干涉条纹 *_7/'0E(3
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 Od ^Sr4C Z`86YYGK 文件信息 y. 1F@w|
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