切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 583阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4741
    光币
    18081
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-15
    摘要 p-.n3AL  
    aaD;jxT&M|  
     #9K-7je;j  
    yR(x+ Gs{]  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 da)NK!  
     Aq3}Ng  
    建模任务 g=I8@m  
    g8PTGz  
     AU2i%Q!  
    =s<( P1|"  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 qucq,Yw  
    yj^+ G  
     \hCH>*x<  
    GnvL'ESa@M  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 q$=#A7H>3)  
    8#vc(04(  
     C*P7-oE2rh  
    L|p Z$HB  
    文件信息 O{ #=d  
    n=[/Z!  
     }iuWAFZbGS  
    iX)%Q  
    更多阅读 cTG|fdgMW  
    - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration YpqrZWvh  
    - Fizeau Interferometer for Optical Testing     kh`"WN Nt  
    Fi0GknQ+  
     S\;V4@<Kn  
    QQ：2987619807 :Y[LN  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表