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摘要 -NG9?sI\U 6O5E4=
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<iCs UIQ=b;J9 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 suj}A VAxk?P0j6 建模任务 [-[|4|CnOm `).;W
n O}x,sG2' h^9Ne/s~ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 If9!S}
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OaxE3bDT ( Gxv?\ 更多阅读 q14A'XW - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Z@i MG - Fizeau Interferometer for Optical Testing B<'V7#L_ w1A&p ~pSD| WX QQ:2987619807 e$(i!G)
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