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摘要 Al`e/a
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&i -c}, :G" 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +tD[9b!
m }@^4,FKJ 建模任务 %bdjBa} ?Sb8@S&J
? mhs$g> o#hjvg 由于组件倾斜引起的干涉条纹 d%0~c'D8a vC5n[0
5A4&+rdU !Lh^oPT"I 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 @ G4X eBJUv]o %
8zBWIi +/ &_v^sC; 文件信息 QzAK##9bfa :(H> 2xS,s
p3}?fej&| WsDM{1c 更多阅读 Vy|6E#U - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration YQS5P# - Fizeau Interferometer for Optical Testing #-GJ&m8 x1BobhU~Zl MG?0>^F QQ:2987619807 O%ug@& S{
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