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摘要 BnfuI ^G 'n
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yVQW|D0,j ~Q#!oh'i 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 As5-@l`@ HRJ\H-
V 建模任务 '(SivD LqO=wK~
ZNl1e' \D};0#G0& 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ri-D#F)} h:|BQC
h4=mGJpm sIbPMu`&U 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 9KB}?~Nx4 Z4:^#98c.
+6}CNC9Mp acar-11_o/ 文件信息 BR-wL3x
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$#6 更多阅读 o~W,VhCP - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration B'mUDW8\D - Fizeau Interferometer for Optical Testing a@Zolz_Z *_d N9 }#;.b'` QQ:2987619807 miTff[hsMa
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