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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-15
    摘要 C$h<Wt=<  
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     } p FQRSOZ  
    z /KK)u(q  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "xI"  
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    建模任务 9_s6l  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 =!O*/6rz  
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    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 1_fZm+oW!  
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    文件信息 I}e 3zf>  
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    更多阅读 WLF0US'  
    - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration kKD`rfyG \  
    - Fizeau Interferometer for Optical Testing     4h@Z/G!T3  
    jV.g}F+1m  
     Fk(JSiU  
    QQ：2987619807 RoCfJ65  
     
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