-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 V3j= Kf
< c/5b]No
 !%0 * z , zY$8y] 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 :9 ^*
^T
Y:a]00&)#Y 建模任务 $E.I84UfX
VP]% Hni]
 HyWCMK6b "'\$
g[k 由于组件倾斜引起的干涉条纹 PwLZkr@4^
!C: $?o U
 wD)XjX c! 9nnTap 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 [cp+ i^f L;I]OC^J
 CeC 6hGR5 }`~+]9 < 文件信息 0"bcdG<}
?5
7Sk+
 ,nm*q#R,0 E^eVvP4uC@ 更多阅读 uW36;3[f#1
- Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration n6a`;0f[R
- Fizeau Interferometer for Optical Testing W 6/yn 3:i@II
9qG6Pb QQ：2987619807 LSr]S79N1
|
