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摘要 93IFcmO.H@ q4UA]+-*
L0%hnA@ jxgj,h"}9` 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 mfny4R1_ K1?Gmue#I 建模任务 ZAuWx@} /$"[k2 N
7{oe ->r S<nq8Ebmw 由于组件倾斜引起的干涉条纹 o$.e^XL
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gLE7Edcp6V RE 3Z%;' 文件信息 rC[6lIP :`vP}I ^
8iC:xcN3 5wC* ?>/ 更多阅读 s]27l3)B - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration MVCl.o - Fizeau Interferometer for Optical Testing $mA5@O~C5\ bVr*h2p lz |
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