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r4 :d6]rOpX 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 wg+[T;0 S e45)t}' 建模任务 6u'E}hAx| }hE!0q~MfM
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m70AWG /U,(u9bq 更多阅读 f,kV - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration >(_2'c*[w - Fizeau Interferometer for Optical Testing 1h|qxYO V*r/0|vd .AQTUd(_ QQ:2987619807 GPizR|}h
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