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摘要 Evd>s O'5d6m 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 *9"L?S(X# 19)fN-0Z EleK*l DKV^c' 建模任务 %B^nQbNDM !^Mk5E ( zk+&5d4( qXPT1%+)y 元件倾斜引起的干涉条纹 =}S*]Me5 65FdA-4 f
=H,BQ NTRw:' 元件移动引起的干涉条纹 &KfRZ`9H $y!k)"k JTcK\t8 pdnkHR$ 走进VirtulLab Fusion \~H;Wt5 xNG'UbU xyO]Evg x)6yWr[ri% VirtualLab Fusion工作流程 g%z?O[CN *uYnu|UQH −基本源模型[教程视频] .e2qa
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] r!eCfV7 8fpaY{] lf3:Z5*&> Ro+/=*ql~ VirtualLab Fusion技术 {e,m<mAi w7Nb+/,sg ZoJ:4uo
N` F^kH"u[ 文件信息 E.v~<[g &wj;: f xZ2}1D J-g#zs m
ys5B} QQ:2987619807 A(y^1Nm
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