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摘要 y_\p=0t8 a=M\MZK> 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 zSo)k~&[3 T] 2q?;N
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Q]/?cCYV K>*a*[t0Sy 建模任务 LPMU8Er \
[a%('} !9Aaj<yxm $<:E'^SAS 元件倾斜引起的干涉条纹 Yjx|9_|Xn nstUMr6
_.L4e^N&UO PO6&bIr 元件移动引起的干涉条纹 xg)v0y~ dtp oU&?6s
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`U5'l −基本源模型[教程视频] oWYmj=D~2z
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Ei2'[PK K)J(./
=$]uoA E9;|'Vy<E VirtualLab Fusion技术 \Gc+WpS( !Q#{o^{Y~
9W(dmde> _cXqAo[V 文件信息 trAkcYd {GC?SaK
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