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摘要 @(a~p Th%w-19,8 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 wjX0r7^@ : ciwh
K[noW AX@bM 建模任务 w].DLoz rS\mFt X X%*BiI
2i6P<&@ 元件倾斜引起的干涉条纹 :LX!T& t9W* N\
>/GYw"KK gEVoY,}/-U 元件移动引起的干涉条纹 96F+I!qC 65&+Fv
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