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摘要 4h?[NOA" }VdohX- 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 :+; UW
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ShFSBD\M# sFMSH:5z 建模任务 !\2Xr{f [.dF)I3 ?~hC.5 c:M~!CXO 元件倾斜引起的干涉条纹 X&pK#= zJOL\J'
F:1w%#6av #D&eov? 元件移动引起的干涉条纹 +,f|Y6L< |