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摘要 C?<XtIoB
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 fm2M i~}0
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 _/w-gL{ +H^V},dBp! 建模任务 X72X:" M&\ ?)yG  x [uXD
8LM1oal} 元件倾斜引起的干涉条纹 2 n+XML k ^%ec3l
 TXOW /{B 1R~WY'Ed 元件移动引起的干涉条纹 3*23+}^G
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
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− 非序列追迹的通道设置[用户案例] G(3 la3\(
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