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摘要 KY 085Fvs \`3YE~7J/ 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 /NRdBN zzOc
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<^>O<P:v @vzv9c[ 建模任务 40,u(4.m* S%J $.ge HUUN*yikj ~nO]R 元件倾斜引起的干涉条纹 j6x1JM t* eZe`|
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] ,EhQTVJ l6o?(!:!%
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