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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 *c@]c~hY, 98WJ"f_ # 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 B^1 Io9 wJF$<f7P 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 |nO}YU\E q{.~=~ 所需工具箱:高级光栅工具箱 taOsC!Bp 3lNw*M|") 相关案例:100.01,101.01 Pq(
)2B !i6 aA1' 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 zdDJcdbGd1 Q1'D*F4 建模任务: ..^,* g? \pH:|79 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 M~!LjJg; "?sLi R7By=Y!t 优化目标: Ia)^ Q_a%$a.rV —TE模偏振光的透过率最大化 ?rV c} SHPZXJ{ —TM模偏振光的透过率最小化 9a_(_g>S dkbKnY& 优化函数: ; d
> sfNAGez —最小化TE的透过率 jfrUOl'l 2!Ex55 —最小化偏振度(要求>50:1) O~&l.>?? ?jzadC el
({x<!5XL BF6H_g —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 Web8"8eD /7zy5
s/'gl }c,}+{q 优化的自由变量为: cjO,#W0&f `+/[0B=. —缝宽:10—190mm VbX$i!>8 P6 G/J- —光栅深度:20—200nm -nT+!3A8 2jx+q 优化算法: zR3Z(^]v O"9f^y* —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 ,K6]Q|U@r —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 L=}UApK L7%'Y}1e. 光路流程图和偏振分析器: Xc5[d`] _.06^5o 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 fhn0^Qc"+ o6KBJx 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 IJXH_H_%* E(U}$Zey Parameter Run 的全局搜索: (*fsv
g~ :7>Si% Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 J0p,P.G qc'tK6=jp Parameter Run 设置 +msHQk5#$m |2 wff? 缝宽:10—19nm 步长10nm; <CmsnX 8h20*@wSN 规划深度:20——200nm 步长10nm; PewPl0 v|,H d 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 [Iihk5TT iK%Rq 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 o>`/,-! X)f"`$ 使用扫描模块进行参数联合调查。 nLfnikw& 优化函数依据迭代次数进行显示: S s`0;D1 M9OFK\) 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 LMG\jc?, Yg]f2ke TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 >6DY3\ QT&{M
#Ydn 参数构成: ycAQPz}=I 8rpN2M3h 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; n
~3c<{coZ
B-gr2- 局部参数优化: S~Hj.
d4/ "\=_- ` 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 eXaDx%mM .CpF0 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; +%Gm2e;_u \%Smp2K 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 ^c7L!F Nb9pdkf0 er#=xqUY J;kbY9e 参数定义: zn~m;0Xi tQ}gBE63 规划深度为20-200nm,权重1e20 `cv:p|s q%vUEQLBp 缝宽10—190nm权重1e20 n|*V
8VaL fIcv}Y 优化函数定义: r4lG 5dV 5~X%*_[], ——TE效率最小值被最大化(全波段) E>1USKxn ]1[;A$7 ——偏振对比度大于50(全波段) W[m_IY WE7l[<b ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 >lW*%{|b$^ 7A|jnm rN~`4mZ 选择下山简法进行局部优化。 awK'XFk nJya1AH; 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 ]x G4T>S yW&iUh=0 uSQ*/h-<)0 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 ({9!P30: Y"jDZG? 优化过的参数为: ;~bn@T- `+o.w#cl 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% 5xHiq&d.E WI,=?~- 结论: _YS+{0
Vq% ("oA{:@d 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 1W
g8jr's yBj)#m5! Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 B# fzMaC D=>^m=?0 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 eQx"nl3U%
c$|dK iPOZ{'Z QQ:2987619807 [mPdT^h
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