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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 4hsPbUx9 f7_\).T 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 80FCe(U Edf=?K+\!i 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 a!c/5)v( X\b}jo^96 所需工具箱:高级光栅工具箱 36kc4= l#2r.q^$| 相关案例:100.01,101.01 a gmeiJT aWHd}% 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 3i]"#wK oglXW8 建模任务: Hl^aUp.c M&|sR+$^ 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 vKU]80T "B|nh d {+@ms$z 优化目标: i63`B+L{ ESC —TE模偏振光的透过率最大化 6pM"h5hA F9m 2C'U —TM模偏振光的透过率最小化 [<en1 '\ph`Run 优化函数: O_r^oH t/v@vJ`vSH —最小化TE的透过率 iN:G/ss4O ]iz_w`I\ —最小化偏振度(要求>50:1) jGk7=}nw +?URVp
FX7Cjo#=R %-h7Z3YcN —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 %-@'CNP ax-=n (
!pd7@FwC 9O),/SH;: 优化的自由变量为: 4 "pS 6obQ9L c —缝宽:10—190mm L]c 8d Kwy1SyU —光栅深度:20—200nm *)j@G: 4u3 \xR?w6 优化算法: c+szU}(f6( y-E1]4?}) —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 GIl:3iB49 —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 JiKImz #D!$~h&i 光路流程图和偏振分析器: Y;fuh[# {M` 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 X?KGb{ &E.OyqGZV 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 8pXfT%] Tx y]"_ Parameter Run 的全局搜索: (P2[5d| ~ GNyE*t/Y Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 o8w-$
Qb am]3
"V> Parameter Run 设置 ! a86iHU Ro$j1Aw( 缝宽:10—19nm 步长10nm; cNdu.c[@ L=d$"Q 规划深度:20——200nm 步长10nm; slu$2-H ceqFQ 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 V%i<;C TAXd,z N 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 60~v
t04 uEBQoP2 使用扫描模块进行参数联合调查。 5kK=S 优化函数依据迭代次数进行显示: [vE$R@TZ0! gs$3)t 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 !.9l4@z# RI?NB6U TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 J09*v)L 6(:)otz 参数构成: 4DvdEt OMl8 a B9 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; J =b* #]"/{Z 局部参数优化: k"t>He O\%j56Bf 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 4"LPJX)Q ;9K[~ 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; 4\v~HFsv _\p`4-.V 参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 sc<kiL 2K
Pqu:lv Mk<m6E$L JFe4/
V 参数定义: K/DH
/
r y*_K=}pk 规划深度为20-200nm,权重1e20 $$42pb. 7Ez}k}aR< 缝宽10—190nm权重1e20 P1$f}K} /;+oz 优化函数定义: X#VEA=4{ "@(58nk ——TE效率最小值被最大化(全波段) O!o <P5X^ sb'lZFSP~s ——偏振对比度大于50(全波段) -P2 @mx% I I&< ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 X+@s] {K+.A 9! FWIih5 3` 选择下山简法进行局部优化。 P?xA$_+ AYt*'Zeg!s 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 qZ#!CPHS }lH;[+u3 fa"\=V2S 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 5H~@^!7t Il|GCj*N 优化过的参数为: Q
Qi@>v|d 0Qt~K#mr/ 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% y`({ .L f]c<9Q>* 结论: 9g96 d- l4zw]AYk+X 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 5|5=Y/ \`
&ej{ Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 |"_ )zQ )x)gHY8; 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 @Zj&`/ SGQDro=l # 9V'';: QQ:2987619807 8'+7i8e
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