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光学测量＞显微 q2et|QCru ;asP4R= 任务/系统视图 a! u
rew# ~PHB_ cyth  <,>P 0tY} _`pD`7:aI^ 亮点 =F;.l@: f`&dQ,;  &[ ;HYgp
<E0UK^-} 显微镜系统中光栅的全矢量分析 4X *>H 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 !1G ."fo 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 ME=/|.}D< &JtV'@>v 说明：光源 jWY V#ifs2 Z%x\~ ) ~  h`H ,a7 C|o`k9I#  / 0eYMG+K= J:kmqk! 说明：透镜系统 P:N1 #| g HuV J\%.  s$ a09x 说明：样品结构 U_{Ux 2 MG{YrX) oi  H
Tz KR%{a(V;7 说明：探测器 A l`e/a (S
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 6 HlePTf8 Usta0Ag 结果：3D光线追迹 d`(@_czdF ?Oc{bF7  A2n qf^b{# %:2+
o'  UA yC.$! >(snII 结果：光线追迹 &RTX6%'KY YLVPA ODY  v$ub~ Q6W ;IpT} , 结果：光线追迹衍射级数 %DQhM ,c@ D91e\|]  +/ &_v^sC; H`geS 结果：场追迹采样平面 0pSmj2/,. =ID
2  > B>CB3 U 1NcCy! + 结果：场追迹焦平面 U. @*`Fg IO/4.m-aN#  W y%s1iu L B.co4 结果：减小光栅周期 SM^-Z|d?
&< !U fa& 随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 8Y#\xzod G!XIc>F*
 "C*B,D*}: {$1J=JbE e*.b3 z  {Ixg2=E\ wm+})SOX9 XB[<;*Iz 文档和技术信息 E.iSWAJ(w
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