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光学测量＞显微 ^ j T1q_0 V N
>X/ 任务/系统视图 Na>?1F"KHk ?T7ndXX  YnwP\Arfq l>?k>NEpP 亮点 gB}UzEj^< ky{-NrK  MzCZj
xYD.j ~ 显微镜系统中光栅的全矢量分析 t'DYT"3 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 ;`}b
.S =n 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 I>%@[h,+ tN&_f ==e 说明：光源 FW ,@.CX
ehr,+GX  4<l& cP S#f}mb0,  =J827c{. O>Ao#_*hOb 说明：透镜系统 XZ1WY( WG(%Pkowv  :yE7jXB 说明：样品结构 K0z@gWGE i~;Yrc%AEX  sA[eKQjaD _% 6Vcy 说明：探测器 :Tn1]a)f6 OE_> K w7q 
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 E@D}Sqt .80L>0 结果：3D光线追迹 D_-<V,3t ["
nDw<U  4Q5 c' HzD=F3\r|  DTp| he n k-V{ '] 结果：光线追迹 E-XFW]I \ws^L, h  iJem9XXb 1)N{!w` 结果：光线追迹衍射级数 XY1b_uY wC4:OJ[d  ju%t'u\' PXJ`< XM 结果：场追迹采样平面 YMTB4|{ Mg}8 3kS  _M9-n Lyj0$wbH` 结果：场追迹焦平面 s^Wh! :>r/ @N,I}_ 9-  #Hy fj j _/%,ZoZ2 结果：减小光栅周期
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ECF \/12 随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 > V vjs XVNJ3/
 %?~`'vYoi r%^J3 6m!%X GZ T  xBW{Wy h I]OVzM k6PHyt`3' 文档和技术信息 ~[d |:]
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Lp}>WCa ms QQ：2987619807 j/Rm~!q
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