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光学测量＞显微 :.k1="H~@ J?oI%r7^ 任务/系统视图 ?S*Cvr+=4 6 5% W jO  Nld y76|g l i @: 亮点 a x. ;IU P{bRRn4Z  p#\JKx
B4D#T lB 显微镜系统中光栅的全矢量分析 ;+Dq 3NE 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 s6DmZ ^Y% 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 y ;\m1o 2 TR<M3,RG#% 说明：光源 yb-1zF| Jw 4#u5$$Z  wV6 04eO( 3} 7`?$ 5  3P.v#T Est @QN(ouq Q 说明：透镜系统 ~E8L,h~ #`HY"-7m_  &'V 1p4' 说明：样品结构 PM?F;mj h 7P<3m}  &Hi;> f} !Eu 说明：探测器 Ah? ,9r=U up@I,9C/  @W1F4HYds
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u@& [ U.GRN)fL4 结果：3D光线追迹 ?mA%`*=q {f(RY j  ^vY[d]R _\ n^t!+  Gp9:#L! O
a%ZlEUF 结果：光线追迹 q ` 0wG3 Z1y=L$t8  ?;YymD_ 8#{DBWU 结果：光线追迹衍射级数 *}P=7TuS iD${7
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Tb[1\ s# 9*`K 结果：场追迹采样平面 \Q!I; lDX\" Fq  1!=^mu8 ; {Nc9d 结果：场追迹焦平面 (MGYX_rD 2X,`t %o  0@tN3u?dx R n_FYP 结果：减小光栅周期 Fd;%wWY.zm
Fl}{"eCF8 随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 *A ([1l&]i )?MUUI :
 \\)9QP? o JX4+u J i F*L-  2r" J"C >] <4t06D !Z!X]F-fY 文档和技术信息 a{@ gzB
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