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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 -+Awm{X_@  
    @/Wty@PU  
    任务/系统说明 r[i~4N=  
    UOOR0$4  
    J_)z:`[yE  
    v f/$`IJ  
    亮点 p3'mJ3MA  
    J,&`iL-  
    Vf\?^h(tP  
    Bwi[qw  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; "m\UqQGX  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 b smoLT  
    {{#a%O  
    具体要求:光源 b{ubp  
    tkUW)ScJ  
    n=Z[w5  
    2e D\_IW  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 :@z5& h  
    +{ ,w#@  
    OD2ai]!v+  
    ,nuDoc  
    vVvt ]h  
    :[ZC-hc\  
    =6q*w^ET  
    SS<+fWXE  
    具体要求:分束器 Wcay'#K,  
    s D8xH  
    ;V}FbWz^v6  
    vGMOXbq4&  
    具体要求:参考光路反射镜 R4J>M@-0v  
    K]=>F  
    |jCE9Ve#  
    U*Q5ff7M6"  
    r~B Qy'  
    8aIf{(/k  
    具体要求:测试光路反射镜 >+c`GpZH  
    @_weMz8}  
    Qak@~b  
    dXcMysRc%&  
    具体要求:探测器 '<E8< bi  
    2|_Jup  
    RAkFgC~  
    do?n /<@o  
    结果:3D光线追迹 .f!eRV.&  
    )9W# 5V$  
    A#07Ly8kXn  
    (NWN&  
    结果:场追迹 xo"4mbTV  
    b42pLbpe'E  
    TH}ycue  
    nO7o7bc  
    结果:移动样品的场追迹结果 }4ghT(C}$  
    D;8V{Hs  
    ,Vn]Ft?n  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 m$UT4,Ol  
    KD3To%  
    文件&技术信息 YQ`#C #Wb  
    n^(yW  
    _q 9lr8hx  
    u0H`%m  
    F'_8pD7  
    QQ:2987619807 S2GBX1  
     
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