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光学测量 > 干涉测量 .! #0eAT kg0X2^#b 任务/系统说明 8%C7!l q
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C(N' +VV_ 亮点 vTE 3-v[i
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D ~D~ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 25e*W>SLw •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； *`D}voU
e :W]B)0/e 具体要求：光源 )Z4ilpU, ^qB
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 ky2n%<0] ^,W;d M2 具体要求：用于准直的消色差透镜 *u J0ZO9 jh7-Fl` A kMP)\Q 
6z-ZJ|? gX29c , |5|aVfh  1 8*M &m{SWV+ 具体要求：分束器 S10"yhn(-t YK xk O  sd5% S zx
aM U0BS" 具体要求：参考光路反射镜 G5Mo IC =()Vrk|uK  }4Q~ <2
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8Pb ~`E/ 具体要求：测试光路反射镜 1>~bzXY# /)+V(Jlu  rXh*nC
\&!qw[;O 具体要求：探测器 l &
A8P RIm8PV;N  -eE r|Gs) $U/|+*
结果：3D光线追迹 %XC 3V7 )6!ji]c
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{sOW DM5 结果：移动样品的场追迹结果 W1;QPdz: FF5|qCV/z  VY#nSF` 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。
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luWr .<1 文件&技术信息 .Q v H7 <q`'[1 Y4
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e,K.bg i QQ：2987619807 mu*RXLai
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