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光学测量 > 干涉测量 s44iEh=V(I l]5% 任务/系统说明 'h*Zc}Q: b7$}JCn
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亮点 pMN<p[MB `SOhG?Zo
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}#f() M\UWWb&%\ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 6E+=Xi •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; Q4%IxR? R;THA! 具体要求:光源 0j@Ix EPs T-P@u-DU Z=9dMND D@hmO]5c 具体要求:用于准直的消色差透镜 JuJ5qIal `Cj,HI_/* N(R,8GF5G lIq~~cv) r<(kLpOH% <nA3Sd"QfV NgxO&Zp M[,^KJ! 具体要求:分束器 f[@#7,2~M +"=~o5k3Q cdsQ3o dofR)"<p,^ 具体要求:参考光路反射镜 Y n>{4BZ># n4*'B* liG~y| P%!q1`Eke(
tJ>d4A;8x rqC1 具体要求:测试光路反射镜 $K=z mh8nlB KgU[ qS82/e)7 具体要求:探测器 L&HzN{K WFdem/\kX f[M"EMy ST4(|K 结果:3D光线追迹 $y4M#yv HjPH *<3iEeO/R nP)-Y#`~7 结果:场追迹 @}{VM)Fc+ F\P!NSFZV
{q2<KRU2+# }'_ :XKLj 结果:移动样品的场追迹结果 73#9NZR n(# c`t* Ug` 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 /K& |