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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 5=e@yIr'#  
    s5@^g8(+C  
    任务/系统说明 m0YDO 0  
    tzPe*|m<  
    Yr@@ty  
     S8t9Ms: k  
    亮点 !).d c.P  
    C5FtJquGN)  
    EA72%Y9F  
     <jjaqDSmz  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； W'yICt(#G  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ZN/")  
     nMqU6X>P!  
    具体要求：光源 'UCL?$  
    elQ44)TrQ  
    B{<6 &bQ  
    $TiAJ}:  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 cA,xf@itp  
    i=rW{0c%  
    Pc-HQU  
    Q}]u n]]Zt  
    mqpZby  
    EhoR.  
    -i4gzak  
    4l:+>U@KU  
    具体要求：分束器 Y|bGd_j  
    ~V4|DN[I  
    5NK:94&JE  
     =Vfj#WL  
    具体要求：参考光路反射镜 e5Z\v0  
    pw8'+FX  
     E2l.  
    i "xq SLf=  
    K7U<~f$OiN  
     1Y_fX  
    具体要求：测试光路反射镜 !G37K8 &&*  
    Mmn[ol  
    `*B8IT)  
     HukHZ;5  
    具体要求：探测器 .,4&/cd  
    o3yZCz  
    #frhO;6  
    =KMck=#B  
    结果：3D光线追迹 G.;<?W  
    r+n&Pp+9  
    Pj$a$C`Z  
    6 BMn7m?  
    结果：场追迹 3!I8J:GZ:  
    *| 'k  
    ck;owGl T  
     | e+m!G1G  
    结果：移动样品的场追迹结果 yq2Bz7P  
    B}p/ ,4x6  
    Q{RHW@_/  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 m@~HHwj  
     }-!$KR]:s  
    文件&技术信息 HO' HkVA  
    z&eJ?wb  
     p^2pv{by  
    qsLsyi|zG  
     }r N"H4)  
    QQ：2987619807 S5;q)qz2J  
     
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