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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 CI IY|DI`l  
    kclp}  
    任务/系统说明 ; Zh9^0  
    `f%&<,i  
    <"N:rn{Qq  
     U%Dit  
    亮点 $RpF xi  
    DD2adu^  
    /^d. &@*  
     \.5F](:  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； sjSi;S4  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； b([:,T7  
     T0g0jr{  
    具体要求：光源 :eSc;  
    <BZ_ (H  
    ]GcV0&|  
    &xgZF Sq  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 }(m1ql  
    Cm^Yl p  
    Xc{ZN1 4n  
    9`&?hi49nK  
    ol50d73B  
    w_\nB}_  
    iA]DE`S  
    VXiui'/(  
    具体要求：分束器 [9LxhPi  
    [U swf3  
    RZ*<n$#6  
     J l\'V  
    具体要求：参考光路反射镜 ^,Lt Ewd~Y  
    )W#T2Z>N1  
    *E.LP1xP  
    B4@fY  
    g#w`J \iz  
     ;"D~W#0-v  
    具体要求：测试光路反射镜 -=5EbNPwG  
    xF&6e&nv  
    <&`:&7  
     Z A[)  
    具体要求：探测器 {y1q7Z.M  
    w"1 x=+  
    kY=rz&?U  
    P`tyBe#=  
    结果：3D光线追迹 ea 2 `q  
    a%v>eXc  
    >G&^?5  
    w;~>k%}j  
    结果：场追迹 ndqckT@93  
    },&h[\N{6  
    pp<E))&R  
     s"q=2i  
    结果：移动样品的场追迹结果 Z/gsCYS3F  
    fa4=h;>a+  
    *Z >  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 zz&vfO31J  
     se#@)LtZ  
    文件&技术信息 f9a$$nb3`  
    =MxpH+spI  
     Xo\S9,s{  
    *Z; r B  
     w763 zi{  
    QQ：2987619807 R#ya,L  
     
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