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光学测量 > 干涉测量 EMlIxpCn: txq~+'A:+ 任务/系统说明 Vl<9=f7 [
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W"Q!|#;l. 亮点 *Y%Jl
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=i>\2J%'R •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； sTkkM9 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； l~J*' m2
\9)#l#m 具体要求：光源 Qz+sT6js- Zu21L3  3qi_]*dD h^oH^moq< 具体要求：用于准直的消色差透镜 %d; <2b0 k4{:9zL1#? `~h4D(n`  =e BmBn 5mgHlsDzu [i7YVwG4  LA4<#KP ~W03{9(Vp8 具体要求：分束器 rk|@B{CA; _1|$P|$P.  aV6#t*\J
T8XY fcc*h 具体要求：参考光路反射镜 6/tI8H3E f:woP7FP  sJZ!sznn
W7=V{}b+
 kl} Xmw{tJ
9(, @aZ 具体要求：测试光路反射镜 w? LrJ37u /ty?<24ko  =X(%Svnp
Z4hLdHo_ 具体要求：探测器 x83a!9 A\QJLWBv^$  (\, BxvhG= PJ LR<9 结果：3D光线追迹 \we\0@v 3l4NC03I&  j9R6ta3\l $t/rOo9cV 结果：场追迹 UiQEJXwnz Ug%_@t/?
 PmX2[ 7
DN8}gl VxV 结果：移动样品的场追迹结果 0Scm? l3 TgfrI
 ,EpH4*e 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 T ~xwo
l7}g^\I 文件&技术信息 cYNV\b4- +wO#'D
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