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光学测量 > 干涉测量 _>9|"seR 7<<pP 任务/系统说明 (_^g:>)Cs
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ZT5t~5W 亮点 z | Hl*T
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 x$Ko|:-
&cV$8*2b^ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Oz# $x •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； dE7 kd=.o
I,(m\Nal K 具体要求：光源 DN2K4%cM%' r :{2}nE  bae .?+0[ 5)+(McJC 具体要求：用于准直的消色差透镜 mT
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d pd-s Kn SXygT  f ?_YdV Z (C={/waJ OmQSNU.our  BC ]^BKP hZ Gr/5f 具体要求：分束器 IHZ WNT2 MC D]n  &P I}o
$Q{)AN;m 具体要求：参考光路反射镜 rk*Igqf p%EU,:I6  e S8tsI
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 z'=*p IY5f
GMU.Kt 具体要求：测试光路反射镜 Y5&Jgn.l {9vvj  A)Wp W M
gQ3Co ./ 具体要求：探测器 y8HLrBTza \[Op:^S  mf=, 6fx28 8W)3rD> 结果：3D光线追迹
.'mmn5E <?kr"[cQeP  HK) $ls I~\j%zD 结果：场追迹 .\= GfF' EGO;g^,
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6e&Y%O'8 结果：移动样品的场追迹结果 w~y+Pv@
M,"4r^%k  d|k6#f-E 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 >gM| :FG
EgM.wQHR] 文件&技术信息 z)xGZ*{= LbOjKM^-
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-U)6o"O_CV QQ：2987619807 zB/$*Hd
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