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光学测量 > 干涉测量 M e>'QVr ceCshxTU 任务/系统说明 ;Z*R Cuwg
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4$"Lf'sH6 亮点 L"a#Uu8
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k*Kq:$9" •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ~0NZx8qG •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； wkGF&U
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/ 具体要求：光源 ZU|nKt<GK {~"=6iyj  r4s R5p]| {IVqV6: 具体要求：用于准直的消色差透镜 (2(hl-- 'n F\e'z ^ =ikxZyO  ` 6A"e Da n7G$ gLX lV?SvXe  ZS-9|EA< SZ Pu"O\ 具体要求：分束器 Z%Gvf~u saV ` -#  UnPSJ]VW
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具体要求：参考光路反射镜 -|lnJg4 OL>/FOH:Fx  'a}{s>{O
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AuQw 具体要求：测试光路反射镜 x>@UqU JV &~& i >  b6lL8KOu
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_kV 具体要求：探测器 w-2]69 $k ^\!p ;R  S92Dvw? F
;D_zo? 结果：3D光线追迹 r?Vob}'Pt] ax<0grK  qH
~usgqB7 6$f,DU 结果：场追迹 ^c5(MR 7LD Nl+ 2m4
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gUMUh] j 结果：移动样品的场追迹结果 n'gfB]H[ 1/n3qJyx2}  ZjcJYtD 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 /~yqZD<O
Cw_ <t 文件&技术信息
Oe27 3Y^e NF.S Gga
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5Z:HCp-aG QQ：2987619807 oGM.{\i
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