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光学测量 > 干涉测量 irF+(&q]jh HQGH7<=Om 任务/系统说明 0aa&13!5 TEQs9-Uy
j5!pS xOC ~;vt{pk 亮点 "{x+ \Z\ {sF;R.P&r
@dc4v_9 qo7jrY5G •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; h3j`X' •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; nG~^-c+ t/J|<Ooj? 具体要求:光源 .o) uJU;C.LX o[aIQ|G G2w0r,[ 具体要求:用于准直的消色差透镜 B4{F)Zb #D^(dz* h@ @q:I= tZygTvK/S r#(*x 2~, tN0? 8qwPk4 +pxtar 具体要求:分束器 LF ;gdF%@ nU/x,W[} H=6-@+ !o \L"0Pmt[ 具体要求:参考光路反射镜 +HEL ^ zKFiCP
K nG7E j#1 Q+p9^_r
:?:R5_Nd= Qn \=P*j 具体要求:测试光路反射镜 ~Gh9m]b TRFza}4:i pt%Y1<9Eh? gW^0A)5 具体要求:探测器 0}-MWbG hy"=)n( * & : J (t"e#b(: 结果:3D光线追迹 :8Ugz ~i K
Vnz{cx` 6OZn7:)Y 4R&pb1eF 结果:场追迹 {i)FDdDGD Thuwme
E+P-)bRa }8Nr.gY 结果:移动样品的场追迹结果 QxiAC>%K ,yTT,)@< =z#j9'n$@ 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 =W"9a\m " (yw(/ 文件&技术信息 A[H"(E#k \iAs
MZ_dI"J, KA
elq* H'jo3d~+ QQ:2987619807 in2m/q?
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