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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 A?_2@6Y^  
    M14pg0Q  
    任务/系统说明 oiklRf  
    ^tpy8TQ  
    6H3_q x  
    6jKM,%l  
    亮点 `RjcJ?r  
    d{YhKf#~  
    )hn,rmn (P  
    >(\[$  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Tvk=NJ  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 of(Nq@  
    (2%C% #]8  
    具体要求:光源 .%*.nq  
    XbHcd8N T  
    #8[,w.X  
    d/7 c#er  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ?lbX.+  
    #ReW#?P%b/  
    #?aR,@n  
    60hf)er  
    G"J6X e  
    (spX3n%p  
    tl#hCy  
    J,IOp-  
    具体要求:分束器 ytJ |jgp'  
    jkfI,T  
    C8(sH@  
    X5)>yM^N`  
    具体要求:参考光路反射镜 H4%wq  
    iPHMyxT+S  
    }p&aI?-B  
    S>**hM U%  
    W}(dhgf  
    VM-J^  
    具体要求:测试光路反射镜 a z`5{hK  
    76c}Rk^  
    9N9|hy  
    's*UU:R  
    具体要求:探测器 p-ry{"XA  
    &M<431y  
    ^B5Hjf9  
    X2o5Hc)l<  
    结果:3D光线追迹 {9P<G]Z  
    #&DJ3(T  
    NbgP,-  
    fDqlN`P@  
    结果:场追迹 !M}&dW2  
    t6~|T_]  
    >O~xu^N?  
    @Wdnc/o]  
    结果:移动样品的场追迹结果  vlE#z  
    xXLKL6F(\  
    ncihc$V<  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ~PS%^zxyn  
    KxiZx I  
    文件&技术信息 F[ 9IHT6{  
    {'{ssCL  
    >R.~'A/$F  
    d{DlW |_  
    ~lQ]PKJ"  
    QQ:2987619807 Hjlx,:'M  
     
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