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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 /W>iJfx  
    DVSL [p?_  
    任务/系统说明 ?AJKBW^  
    2 lj'"nm  
    y9x w 9l'  
     WU quN  
    亮点 Y~L2  
    (Tn- >).AO  
    E%r k[wI  
     <kGU,@6PF  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； _a6[{_Pc  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； H@q?v+2  
     77\] B  
    具体要求：光源 BI3@|,._N  
    ;_rF;9z9  
    H5Z$*4%G  
    Jtr"NS?a]  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 fA+ ,TEB~d  
    gDQ1?N'8{t  
    ~:Ll&29i  
    / c AUl  
    ]ooIr Y8  
    tasUZ#\6  
    ^Wt*  
    7UdM  
    具体要求：分束器 y#U+c*LB  
    ] lrWgm  
    H@%GSE  
     0:9.;x9_  
    具体要求：参考光路反射镜 G/7cK\^u  
    ioYGZ%RG#  
    sj HrPs e  
    "|qqUKJZ  
    VXR>]HUF  
     B56L1^ 7  
    具体要求：测试光路反射镜 {bJ`~b9e  
    *7ZN]/VRT  
    X]wRwG  
     DXJ`oh  
    具体要求：探测器 Y8-86 *zC  
    k'Sp.  
    ^eo|P~w g  
    ^,/RO5  
    结果：3D光线追迹 (Iaf?J5{  
    vgfcCcZ_iZ  
    Bq D'8zLD  
    va}Pj#=  
    结果：场追迹 tjdaaN#,V  
     UA48Ug  
    xKuRh}^K  
     P)Rh=U  
    结果：移动样品的场追迹结果 ;C3US)j  
    6W]9$n\"?  
    gcdlT7F)b-  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 ] 6TATPIr  
     i{`FmrPO~  
    文件&技术信息 a&c6.#E{y  
    0K`#>}W#X  
     n1ly y0%u  
    E4|jOz^j4\  
     W4pL ,(S  
    QQ：2987619807 Xq_5Qv  
     
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