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光学测量 > 干涉测量 t2"FXTAq 3 g6j?yYqb 任务/系统说明 )YqXRm
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!* OJ.W& 亮点 C$5[X7'
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*Aa?yg:= •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ~^cMys |' •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ki)#d'
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\!ej<T+JR> 具体要求：光源 {,L+1h Kde9
$  ~#/hzS ,tg0L$qC 具体要求：用于准直的消色差透镜 3Gip<\$v b?'yA Xk +U3m#Y )k  mbueP.q[? Ct% x&m: /7YF mI/0  B9J&=6`) T|6a("RL 具体要求：分束器 %?Ev|:i`@ ~appY Av  U,. &En uE0BD
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{qa Aq%' 具体要求：测试光路反射镜 y?q*WUh
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yiA<,!;4P 具体要求：探测器 @Rw!'T ,YMp<C  `9 b7>Nn< lgtC |k M= 结果：3D光线追迹 s]JF 0584 qC?:*CXH  \R;`zuv = MOj|NR [ 结果：场追迹 ,9o"43D:a| E}tqQ*u
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^!by3Elqqk 结果：移动样品的场追迹结果 h|"9 LU4a c*@E_}C#  `WH"%V:"Q 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 A, LuD.8
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