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光学测量 > 干涉测量 4) 8k?iC* i).%GMv*r 任务/系统说明 S^QEc tXU
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A4j ,]hOD 亮点 V.~kG ,Ht
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 nW=6n Cyvo
YU,zQ V' •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； +ai3 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； }QE.|.fA1
xQ9t1b|{e 具体要求：光源 l6' KIg JsY,Q,D q  }8O9WS (:iMs)
iO{ 具体要求：用于准直的消色差透镜 Q2fxsa[ #$WnMJ@ re/-Yu$'  %`C e#b()' (B#FLoK OTy!Q,0$.  M"z=114 xF_u:}7` 具体要求：分束器 c)EYX o Zg+.`>z  $WYt`U;*lj
<"Y>|X 具体要求：参考光路反射镜 dsIbr"m MTYV~S4/  F}Zg3 #
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^B.Z 3Y 具体要求：测试光路反射镜 wBt7S !>G N XB8u6  )K x.v'
.-$3I|}X = 具体要求：探测器 Sct b^R:q7ea  SFg4}*"C / 'D W|a 结果：3D光线追迹 ivo3 pibk% L|[i<s;  3]S*p ErY oy VT 结果：场追迹 ;(K/O?nrJ uGAQt9$>_
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f@sC~A. 9\ 结果：移动样品的场追迹结果 }P.s 0LW3VfvToN  IB| !51H 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Rd8mn'A
gV)/lDEM5 文件&技术信息 WvU[9ME^) m03dL^(
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PE{<' K\g QQ：2987619807 x|Uwk=;X|s
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