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光学测量 > 干涉测量 A?_2@6Y^ M14pg0Q 任务/系统说明 oiklRf ^tpy8TQ
6H3_qx 6jKM,%l 亮点 `RjcJ?r d{YhKf#~
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(P >(\[ $ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Tvk= NJ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; of(Nq@ (2%C%#]8 具体要求:光源 .%*.nq XbHcd8N T #8[,w.X d/7c#er 具体要求:用于准直的消色差透镜 ?lbX.+ #ReW#?P%b/ #?aR,@n 60hf)er G"J6X e (spX3n%p tl#hCy J,IOp- 具体要求:分束器 ytJ |jgp' jkfI,T C8(sH @ X5)>yM^N` 具体要求:参考光路反射镜 H4%wq iPHMyxT+S }p&aI?-B S>**hMU%
W}(dhgf VM-J^ 具体要求:测试光路反射镜 az`5{hK 76c}Rk^ 9N9|h y 's*UU:R 具体要求:探测器 p-ry{"XA &M<431y
^B5Hjf9 X2o5Hc)l< 结果:3D光线追迹 {9P<G]Z #&DJ3(T NbgP,- fDqlN`P@ 结果:场追迹 !M}&dW2 t6~|T_]
>O~xu^N? @Wdnc/o] 结果:移动样品的场追迹结果 vlE#z xXLKL6F(\ n cihc$V< 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ~PS%^zxyn KxiZx I 文件&技术信息 F[9IHT6{ {'{ssCL
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