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光学测量 > 干涉测量 w2{k0MW @2$PU{dH 任务/系统说明 v@>hjie );))kYr
AX'(xb, 5\|[)~b 亮点 yE"hgdL EzNmsbtZ(
aF'Ik XG d 0RoI`>j' •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; &}T`[ d_Z •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; EVq<gGy 1pzU=!R?-O 具体要求:光源 WDzov9ot >5^Z'!Z" s ^)W?3t] 1Za\T?V 具体要求:用于准直的消色差透镜 I*lq0& W!tP sPM |{9"n<JW O)9T|,
U
5j]}/Aq a S<JsB Z]SCIU @+ HwU \[f 具体要求:分束器 ;7m>40W &q":o 'q #G*z{BRQ gVG :z_6 具体要求:参考光路反射镜 i}wu+<Mk <EBp X .f jM9G# x[(2}Qd
-q+Fj;El mD )Nh 具体要求:测试光路反射镜 J=\Y 4- " *f4KmiQ~% /@wm?ft6Gk ahV_4;yF 具体要求:探测器 j ^_G Nju7!yVM_ (j-(fS |fw+{f 结果:3D光线追迹 ! prU!5- 1/&j'B a#raUF7e Np/[MC 结果:场追迹 !o.g2 <c\aZ9+V
I)Y$?" t: [[5];E 结果:移动样品的场追迹结果 7PisX!c,h x65e,' VWMCbg>R 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 +- .BF"} "n8_Ag@r 文件&技术信息 RuXK` ySv Lqch~@E&%#
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