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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 w2{k0MW  
    @2$PU{dH  
    任务/系统说明 v@>hjie  
    );))kYr  
    AX'(xb,  
    5\|[)~b  
    亮点 yE"hgdL  
    EzNmsbtZ(  
    aF'Ik XG d  
    0RoI`>j'  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; &}T`[ d_Z  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真  EVq<gGy  
    1pzU=!R?-O  
    具体要求:光源 WDzov9ot  
    >5^Z'!Z"  
    s ^)W?3t]  
    1Za\T?V  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 I*lq0&  
    W!tP sPM  
    |{ 9"n<JW  
    O)9T|, U  
    5j ]}/Aq  
    a S<JsB  
    Z]SCIU @+  
    HwU \[f  
    具体要求:分束器 ;7m>40W  
    &q":o 'q  
    #G*z{BRQ  
    gVG :z_6  
    具体要求:参考光路反射镜 i}wu+<Mk  
    <EBp X   
    .f jM9G#  
    x[(2}Qd  
    -q+Fj;El  
    mD)Nh  
    具体要求:测试光路反射镜 J=\Y4- "  
    *f4KmiQ~ %  
    /@wm?ft6Gk  
    ahV_4;yF  
    具体要求:探测器 j ^_ G  
    Nju7!yVM_  
    ( j-(fS  
    |fw+{f  
    结果:3D光线追迹 ! prU!5-  
    1/&j'B  
    a#raUF7e  
    Np/[MC  
    结果:场追迹 !o.g2  
    <c\aZ9+V  
    I) Y$?"  
    t: [[5];E  
    结果:移动样品的场追迹结果 7PisX!c,h  
    x65e,'  
    VWMCbg>R  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 +-.BF"}  
    "n8_Ag@r  
    文件&技术信息 RuXK` y Sv  
    Lqch~@E&%#  
    N@A#e/8  
    Q`//HOM,  
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    QQ:2987619807 ,U2D &{@  
     
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