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光学测量 > 干涉测量 8(A{;9^g \P?A7vuhLs 任务/系统说明 w0Ij'=: uec|S\~M
-:]@HD : E`)Qs[?Gk 亮点 t[2i$%NVM 7rIlTrG
Z"tQpJg mk= #\> •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; GS%b=kc •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; YIOR$ |Fv?6qw+ 具体要求:光源 A&N*F "q %h+uD^^$ Q!$IQJ]|Y ~`Sle
xK|} 具体要求:用于准直的消色差透镜 C1QWU5c v 4}-#mBV]/ /DU*M, =Ahw%`/&}] IVteF*8hU treXOC9^B8 <]Y[XI(kr KXe
ka 具体要求:分束器 Bp3L>AcVu (6k>FSpg I,j3bC V2Y$yV8g1 具体要求:参考光路反射镜 ~zyQ(' pUL sGb <SQ(~xYi c]v
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d@>\E/zA H8i+'5x,? 具体要求:测试光路反射镜 G(\Ckf: %fpsc_ Cef7+fa Yy@g9mi 具体要求:探测器 DHzkRCM p7UTqKi wLMvC{5 -N z}DW> 结果:3D光线追迹 H[BYE
-S$$/sR m!Af LSlwm T.@sq 结果:场追迹 .)`-Hkxa &<h?''nCy
k1iLnza% {^wdJZ~QLK 结果:移动样品的场追迹结果 h,]+ >`b T} 8CfG_j 8IJ-]wHIb 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 o<J5! *w 21U! 文件&技术信息 'w6hW7"L CB]l[hM$
V}:'Xgp*N g)cY\`&W8 Omb.53+ QQ:2987619807 ~04[KG
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