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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 WcRTv"4&  
    z~Zu >Q1u[  
    任务/系统说明 ivTx6-]  
    _:dt8+T#  
    25EuVj`zL  
    pO]{Y?X:  
    亮点 {#?$ p i[  
    2ed4xh V  
    nsf.wHGZ"J  
    WFHS8SI  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ^YVd^<cE  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ad <z+a  
    .T!R&#]n  
    具体要求:光源 {B;<R1  
    5&Y%N(  
    SNLZU%jan  
    qH 1k  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 K;uOtbdOK  
    k&JB,d-mJ%  
    %IAZU c  
    +=_^4  
    sGBm[lplz  
    gteG*pi  
    +-%&,>R  
    UQ X.  
    具体要求:分束器 whH_<@!  
    "6^~-` O  
    i sK_t*  
    /Kw}R5l  
    具体要求:参考光路反射镜 ;JpsRf!  
    p?@R0]  
    x6n(BMr  
    !UzMuGj  
    XIep3l*  
    kdq<)>"  
    具体要求:测试光路反射镜 /5**2Kgv1  
    k 4HE'WY  
    rnOg;|u8  
    T O]wD^`  
    具体要求:探测器 DfPC@` k  
    Xa,d"R~  
    NA :_yA"  
    E*B6k!:  
    结果:3D光线追迹 / 5\gP//9K  
    bUcEQGHcZ=  
    Z 91{*?  
    uT Z#85L `  
    结果:场追迹 sY- ] Q  
    >$/<~j]  
    5YV3pFz$)  
    V/t/uNm  
    结果:移动样品的场追迹结果 d*B^pDf  
    $ [t7&e  
    tz^2?wO  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 :cE6-Fv  
    Y^Y1re+}  
    文件&技术信息 }EMds3<  
    `GpOS_;  
    23(j<  
    _o+z#Fnz  
    qN=l$_UD  
    QQ:2987619807 &s{" Vc9]  
     
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