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光学测量 > 干涉测量 (6e!09P& *iPs4Es- 任务/系统说明 W]} #\\$z qw6EP C )lQN)!.) "9)1K!tH 亮点
n'! -Pv <m~T>Ql1 jQY>9+t FAH[5VDr% •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Q~x*bMb. •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; m}; ~JMo] M|1eqR%x-? 具体要求:光源 V#p G; , I[tAT[ < (K^YD K
*K]>} 具体要求:用于准直的消色差透镜 z~GVvgd OJnPP> 0*37D5jH \/?
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具体要求:分束器 j4.Qvj >:4 Q3 K;kS 113Z@F s#'|{ 具体要求:参考光路反射镜 *O2^{ C trID#DT~ {Bav$kw;?e 8Uj68Jl? FCsyKdM F2Nb5WT 具体要求:测试光路反射镜 [V!^\g\6 $#6Fnhh} e_fg s>o`( 9$B)hrJo
具体要求:探测器 @ef//G+Z" P^'>dOI0w e["Z!D_H |U;w !0 结果:3D光线追迹 V Z4nAG YHwVj?6W >=Rd3dgDG avYh\xZ 结果:场追迹 (E2lv#[ m)tI O3slabE# :epitpJ 结果:移动样品的场追迹结果 *~\;&G29Y r9p?@P\:[ OF<[Nh\. 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 XnNOj>! MY0[Oq cm= 文件&技术信息 LaAgoarN ]5qjK~,4b K-g=td/@ \kua9bK rm7*l<v6 QQ:2987619807 g/n"N>L
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