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光学测量 > 干涉测量 F$ckW'V ;{Yr| 任务/系统说明 c qaq~
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X/bu z 亮点 LVy`U07C V
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W6RjQ1 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； "EVf1iQ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； !C(PfsrR/
Qb7&S5m 具体要求：光源 /i
PzT@ q\O 
c& $[a%s *uSlp_;kB 具体要求：用于准直的消色差透镜 lk[u 3sgo5D-rMI ~>Y^?l  2*V]jO mz<X$2]? Md0`/F:+2  hOYX 0d$LUQ't 具体要求：分束器 VtMn LF Mw 0>"y)T3  aU/y>Y <k
QVah4wFL*. 具体要求：参考光路反射镜 efuiFN; 3BA Q2S}  $h}w: AV:
WR u/7$8
 C~^T=IP
)` S5>[6 具体要求：测试光路反射镜 (=j/"Mb =@&>r5W1  a
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e(FT4KD~ 具体要求：探测器 rHqP[[4B' ftQ;$@  3#aLCpVla \tA@A 结果：3D光线追迹 i~3\dp "yl6WG# J  CtUAbR ] .Ra=^q 结果：场追迹 t3*.Bm:^ p@h<u!rL8
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Ft}nG&D 结果：移动样品的场追迹结果 ?X\ uzu ? m9=Me  %s ;5 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 A'"J'q*t
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