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光学测量 > 干涉测量 WcRTv"4& z~Zu>Q1u[ 任务/系统说明 ivTx6-] _:dt8+T#
25EuVj`zL pO]{Y?X: 亮点 { #?$p i[ 2ed4xhV
nsf.wHGZ"J WFHS8SI •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ^YVd^<cE •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ad
<z+a .T!R]n 具体要求:光源 {B;<R1 5&Y%N( SNLZU%jan qH1k 具体要求:用于准直的消色差透镜 K;uOtbdOK k&JB,d-mJ% %IAZU c +=_^4 sGBm[lplz gteG*p i +-%&,>R UQX. 具体要求:分束器 whH_<@! "6^~-`O i sK_t* /Kw}R5l 具体要求:参考光路反射镜 ; JpsRf! p?@R0] x6n( BMr !UzMuGj
XIep3l* kdq<)>" 具体要求:测试光路反射镜 /5**2Kgv1 k4HE'WY rnOg;|u8 T
O]wD^` 具体要求:探测器 DfPC@`
k Xa,d"R~ NA :_yA" E*B6k!: 结果:3D光线追迹 /
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5YV3pFz$) V/t/uNm 结果:移动样品的场追迹结果 d*B^pDf $ [t7&e tz^2?wO 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 :cE6-Fv Y^Y1re+} 文件&技术信息 }EMds3< `GpOS_;
23(j < _o+z#Fn z qN=l$_UD QQ:2987619807 &s{" Vc9]
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