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光学测量 > 干涉测量 o_os; ^vo^W: 任务/系统说明 C6O1ype 3]<$;[Q
RH>b, c9iCH~ 亮点 IN`05 Q lHz:Iibt
WynHcxC "D8xHHb •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; u[PO'6Kzd •对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
0qZ{:}`3 7P:0XML} 具体要求:光源 b*r1Jn"h I+8m1* QQ1+uY 56&s' 具体要求:用于准直的消色差透镜 D
OPOzh >0:h(,?V BI,K?D&W- (/Z~0hA[Q az0( 54M ~F>oNbJIv kn`KU.J. fy9{W @E3p 具体要求:分束器 #j iQa" @wZ`;J % h'w9=Pk~6y :
bT*cgD{ 具体要求:参考光路反射镜 0xIr:aFF W"VN2 NZ9`8&93 7Cp>i WV
QRw306 #=Q/<r.~G 具体要求:测试光路反射镜 26.iFt/: 6i%LM`8GEk BAg*zYV7 @MAk/mb& 具体要求:探测器 @l>\vs< ]Fl+^aLS G-bG}9vc] ^ yH|k@y 结果:3D光线追迹 VXR.2C U7tT o(C({]UO/ m{(D*Vuqd 结果:场追迹 +J_A*B 1\kOjF)l
B58H7NH ;G SECL(@0(^ 结果:移动样品的场追迹结果 RZm5[n =@gH$Q_1 9!gmS?f 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 % 49@ 8X5;)h 文件&技术信息 4UC/pGZY \qV5mD]"M
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n@[=l~ QQ:2987619807 L~I<y;x
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