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光学测量 > 干涉测量 Guw}=l--YR Z8O n%Mx{" 任务/系统说明 YI RZ+H<Q
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s ^Nw%KAv 亮点 &)d$t'7 p
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,_.I\EY[ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； (IqZ@->nw •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； MM_k
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s9;#!7 ms 具体要求：光源 1@48BN8cm' BF*kb2"GZ6  OVzt\V*+%W 8I20*# 具体要求：用于准直的消色差透镜 8
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b e1(Q( 3 v,-{Z1N%m  :NHH
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mpAR7AG 6 具体要求：参考光路反射镜 3~,d+P ^4r73ak/):  N8qDdr9p?c
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2LrJ>Mi 具体要求：测试光路反射镜 tQZs .1=z Nx{$}  #-pc}Y|<
h\ plQ[T 具体要求：探测器 !d<"nx[2` 2* (Z==XC7  9lB]~,z iA8U Yd3Q 结果：3D光线追迹 u0P)7~% O+%WR  q o<&J f \Mg`(,kwe 结果：场追迹 4iW'kuK !61Pl/uQ
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sp@E8G%xO 结果：移动样品的场追迹结果 M xyN\Mq' P"<U6zM\sP  W8lx~: v 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 ^F:k3,_[
oI^4pwn h 文件&技术信息 j5
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ID.n1i3 QQ：2987619807 U^qt6$bK
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