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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 HrK7qLw7  
    tNf_,]u  
    任务/系统说明 vp|.x |@  
    ]K-B#D{P  
    cgV5{|P  
    U-.A+#<IT9  
    亮点 D b&= N  
    E0t%]?1  
    `p#u9M>  
    Yc`PK =!l  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; !QsmT3   
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 HO}eu  
    o>^ @s4t  
    具体要求:光源 ?m bI6fYv  
    p)c"xaTP#F  
    3gQ2wP*K  
    :G4)edwe  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ? 4v"y@v  
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    R^VmNj  
    LZ4Z]!V  
    Uqd2{fji=#  
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    O_P8OA#|  
    具体要求:分束器 Ih_=yk  
    jmr1e).];  
    _zG[b/:p  
    se S)`@n  
    具体要求:参考光路反射镜 um=qT)/D  
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    mNQ*YCq.  
    ' fka?lL  
    +i(;@% kv  
    D.,~I^W  
    具体要求:测试光路反射镜 "vF7b|I  
    A)HV#T`N  
    '-[?iF@l  
    IJ2>\bW_p  
    具体要求:探测器 #vPf$y6jCI  
    u;/<uV3  
    NGAjajB  
    X+'B*K$  
    结果:3D光线追迹 yL"pzD`[H  
    v]U0@#/p  
    _8s1Wh G  
    a+e8<fM yT  
    结果:场追迹 m<GJ1)%3i  
    K&;;{~md.  
    3.V-r59  
    tS sDW!!M  
    结果:移动样品的场追迹结果 !^IAn  
    Qe4"a*l-r  
    !A#(bC  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 (E<QA  
    Ir$:e*E>  
    文件&技术信息 822jZ sb  
    i4\m/&of3y  
    >-4kO7.V  
    ;0Mg\~T~'  
    hC2_Yr>N%  
    QQ:2987619807 O;SD90  
     
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