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光学测量 > 干涉测量 HrK7qLw7 tNf_,]u 任务/系统说明 vp|.x |@ ]K-B#D{P
cgV5{|P U-.A+#<IT9 亮点 D b&=
N E0t%]?1
`p#u9M> Yc`PK =!l •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; !QsmT3 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; HO}eu o>^@s4t 具体要求:光源 ?mbI6fYv p)c"xaTP#F 3gQ2wP*K :G4)edwe 具体要求:用于准直的消色差透镜 ?
4v"y@v |'QgL0?
R^VmNj LZ4Z]!V Uqd2{fji=# SU7 erCHX OrRU$5Lo O_P8OA#| 具体要求:分束器 Ih_=yk jmr1e).]; _zG[b/:p seS) `@n 具体要求:参考光路反射镜 um=qT)/D :pNu$%q mNQ*YCq. 'fka?lL
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kv D.,~I^W 具体要求:测试光路反射镜 "vF7b|I A)HV#T`N '-[?iF@l IJ2>\bW_p 具体要求:探测器 #vPf$y6jCI u;/<uV3 NGAjajB X+'B*K$ 结果:3D光线追迹 yL"pzD`[H v]U0@#/p _8s1Wh G a+e8<fM yT 结果:场追迹 m<GJ1)%3i K&;;{~md.
3.V-r59 tS
sDW!!M 结果:移动样品的场追迹结果 !^IAn Qe4"a*l-r !A#(bC 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 (E<QA Ir$:e*E> 文件&技术信息 822 jZ
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