-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
光学测量 > 干涉测量 :h,`8 Di tM j1~
R 任务/系统说明 pA4*b O+
q_Lo3|t i
 K TEZ4K^o=
jtm?z c 亮点 dr q hQ
ir3VTqz
>`jU`bR @
0q FH
s •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； H@uE> •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； rx :z#"?I
m ceG!@t 具体要求：光源 @$eT~ C 9PUes3"v  N]YtLa,t 9F;S+)H4 具体要求：用于准直的消色差透镜 H0"= Vs,n {0YAzZ7 W
>(vYU  uENdI2EY8y 2yo
cu!4l insY(.N  |vFj*XU ;pRcVL_4 具体要求：分束器 /\Q*MLwD D';eTy Y  y 0ckm6^
!~ -6wN"k 具体要求：参考光路反射镜 xeTgV&$@ E&~nps8e  iz"3\{aN
Z%gx% $
 y~< @x.
A N9[ G 具体要求：测试光路反射镜 'q%%m/,VPQ ,,=apyr#&  8r bG*6
#NRh\Wj| 具体要求：探测器 _ :^ 7a3I $1*3!}_0  }{],GHCjQ gY9\o#)< 结果：3D光线追迹 x|~ zHFm6 mxqG-*ch-  ] y1f M0 $;D*
n'8Fx 结果：场追迹 '=cKU0
G # ~S (^T9R
 #2%([w
keqcV2 3k 结果：移动样品的场追迹结果 %c6E-4b 0-2"Fd eQU  </E>tMW 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 fUcLfnr
=K$,E 4* 文件&技术信息 E,*&BDW H}b\`N[nr
 [>w%CY<Fd LP`CS849z2
t<b 3K- QQ：2987619807 G?V"SU.
|
