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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 Z+"%MkX0  
    @:DS/#!  
    任务/系统说明 }-{l(8-  
    &Vi"m!Bf  
    rn1FCJ<;H  
    7`3he8@ze  
    亮点 ?9q{b\=l  
    qIQvix$8  
    L4SvE^2+  
    p\e*eV1dxx  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; v ~73  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 LQYT/  
    d>F=|dakL  
    具体要求:光源 WU1 I>i  
    6.tppAO+  
    Nzc1)t=  
    Ch ` Omq  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 .a:Oj3=0  
    ^r=#HQGt  
    qv3L@"Ub  
    Yg%V  
    NXDV3MH=  
    z x{\SU  
    6m21Y8N  
    hD58 s"L$  
    具体要求:分束器 Jg|3Wjq5  
    nZQZ!Vfj  
    iXC/? EK4  
    o <LA2 q`T  
    具体要求:参考光路反射镜 (JFa  
    +7+ VbsFG  
    J.":oD  
    FQi"OZHq  
    X%,;IW]a  
    B!< {s'  
    具体要求:测试光路反射镜 n2-R[W^  
    h bj^!0m  
    UeE& 8{=d  
    I}Q3B3Byg  
    具体要求:探测器 c#9 zw[y-L  
    `Y.RAw5LrE  
    Q}]:lmqH  
    r3Z-mJ$:  
    结果:3D光线追迹 2ok>z$Y  
    {b/60xl?  
    c<JJuG  
    %8 cFzyE*  
    结果:场追迹 . 36'=K  
    iG!MIt*  
    sutj G`m  
    $Ry NM2YI  
    结果:移动样品的场追迹结果 T:cSv @G  
    O0b8wpF f  
    C&Nd|c  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 & PHHacp  
    TaM,9MAu  
    文件&技术信息 #_7}O0?c3  
    >1s:F5u"  
    {LJCY<IGq  
    pSq\3Hp]Q  
    @zfeCxVOA  
    QQ:2987619807 Q'~;RE%T  
     
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