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光学测量 > 干涉测量 IOhJL'r piULIZ0 任务/系统说明 Lyo!}T %Ya%R@b}
l|RBO+} nvY%{Zf$} 亮点 ;UUpkOQO( lY
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3CcCcZ9I Gj!9#on$7R •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 1 etl:gcEC •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; =S+*=j A Mu: y9o95 具体要求:光源 Cw$0XyO #0kVhx7% EdcbWf7 aG_@--= 具体要求:用于准直的消色差透镜 8L1vtYz F \0>/ Z mVw5G
q fJ<I|ZZ /~~A2.=. b'r</ncZ p+7G R.x^ 具体要求:分束器 yxk:5L \A #
RoJD:9 F+@/ "1c |#(KP 具体要求:参考光路反射镜 05>mR qVL }uR[H2D`L ^Y%'"QwJS (/gv
U80
PaD6||1F ]y0bgKTK 具体要求:测试光路反射镜 ,ArHS X8 $Y2?< p~'iK4[&6 7F5v-/ 具体要求:探测器 2]of4 pq"Z,9,F% ~k"r jlxY|;gZ-0 结果:3D光线追迹 PfR|\{( 0 i'bo* |lCS^bA3 LUs)"ZAi| 结果:场追迹 y#T.w0* .}9Lj
6,;dU-A + ~U r 结果:移动样品的场追迹结果 {=%,NwPs Kpg?'
!I ,B~5;/| 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 5^ck$af @
D,]v: 文件&技术信息 LD*XNcE Uiv4'vYg
G{.[o6> DFkDlx C:AD ZJL QQ:2987619807 Z=9<esx
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