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光学测量 > 干涉测量 q#AIN`H
1K#[Ef4 任务/系统说明 d+G%\qpzQ
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7w2$?k',- 亮点 R~iv%+
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OS`jttU@ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Q*I8RAfd •对相干效应以及干涉图样的高速仿真；
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.]h/M,xg 具体要求：光源 ,v mn{g z WPsfl8@D  vGlVr.) YFS6YA 具体要求：用于准直的消色差透镜 E,tdn#_| ~n@rX=Y)]0 jZ-s6r2=  $.C-_L al}J^MJ _p4]\LA  Lu6g`O:[' deaB_cjdI 具体要求：分束器 p%meuWV%5 mrR id}2  >w<w *pC
v=ii S}s 具体要求：参考光路反射镜 UJh ; Hp: pD({"A.x9z  NW5OLa")J<
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>Y8\f :KQ 具体要求：测试光路反射镜 FHU6o910 P~{8L.w!>W  2`riI*fQ
DqQ p47kp 具体要求：探测器 S=-$:65 F4G81^H  H}kSXKO8!8 h-1?c\Qq: 结果：3D光线追迹 T4wk$R
L 8 O]`3oa>  2rT^OGw6 m=l'9j"D 结果：场追迹 $O*@Jg= s*la`(x
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J6s]vV q" 结果：移动样品的场追迹结果 R]X 0D. S j ~SG  f/O6~I&g 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 :6lv X$
nI] EfHU 文件&技术信息 HQ-+ +;Q NCkI[d]B@
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