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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 #R3|nL  
    S -KHot ?  
    任务/系统说明 "94qBGf  
    jr=erVHK  
    K-drN)o  
    5\eM3w'd  
    亮点 `%S#XJU  
    =-|,v*  
    Vi_6O;  
    .=<<b|  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ptEChoZ6  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 "Z*u2_ H  
    C{8(ew  
    具体要求:光源 uiIS4S_  
    El#"vIg(\  
    &i?>mt  
    x 2Cp{+}  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 x C+TO  
    eJwHeG  
    |KLCO'x  
    p;<brwN  
    :927y  
    V+&C_PyC  
    $c<NEt_\  
    w_]`)$9  
    具体要求:分束器 eT6T@C](  
    j0+l-]F-  
    - HiRXB  
    Cmj+>$')0  
    具体要求:参考光路反射镜 (N :vDq'  
    @J UCXm  
    r`GA5 }M  
    A$Ok^  
    *'jI>^o  
    cHjnuL0fsy  
    具体要求:测试光路反射镜 G=l-S\0@  
    ;2jH;$HZ  
    Gj H$!P=.  
    ;"Q.c#pA$g  
    具体要求:探测器 K@>($BX]  
    RJk42;]  
    !)$e+o^W  
    !b4v}70,  
    结果:3D光线追迹 "9bd;Tt:  
    ee\QK,QV  
    NY3.?@Z  
    d !=AS  
    结果:场追迹 {k8R6l1  
    % "CF-K@th  
    @Tz}y"VG  
    *BFG{P  
    结果:移动样品的场追迹结果 @Z2^smf  
    6Mh"{N7  
     xh|<`>5  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 `b?o%5V2x  
    d.Ep#4  
    文件&技术信息 !\Vc#dslt  
    _`.Wib+  
    ~6Pv5DKq  
    *r(Qy0(  
    5/YGu=,  
    QQ:2987619807 {u)>W@Lr  
     
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