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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 IOhJL'r  
    piULIZ0  
    任务/系统说明 Lyo!}T  
    % Ya%R@b}  
    l|R BO+}  
    nvY%{Zf$}  
    亮点 ;UUpkOQO(  
    lY -2e>  
    3CcCcZ9I  
    Gj!9#on$7R  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 1 etl:gcEC  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 =S+*= jA  
    Mu: y9o95  
    具体要求:光源 Cw$0XyO  
    # 0kVhx7%  
    EdcbWf7  
    aG_@--=  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 8L1 vt Yz  
    F \0>/  
    Z mVw5G q  
    fJ<I|ZZ  
    /~~A2.=.  
    b'r</ncZ  
    p+7G  
     R.x^  
    具体要求:分束器 yxk:5L \A  
    # RoJD:9  
    F+@/"1c  
    |#(KP  
    具体要求:参考光路反射镜 05>mRqVL  
    }uR[H2D`L  
    ^Y%'"QwJS  
    (/gv U80  
    P aD6||1F  
    ]y0bgKTK  
    具体要求:测试光路反射镜 ,ArHS  
    X8 $Y2?<  
    p~'iK4[&6  
    7F5v-/  
    具体要求:探测器 2]of 4  
    pq"Z,9,F%  
    ~ k"r  
    jlxY|;gZ-0  
    结果:3D光线追迹 PfR|\{(  
    0 i'bo*  
    |l CS^bA3  
    LUs)"ZAi|  
    结果:场追迹 y#T.w0*  
    .}9Lj  
    6,;dU-A+  
    ~U r  
    结果:移动样品的场追迹结果 {=%,NwPs  
    Kpg?' !I  
    ,B~5;/ |  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 5^ck$af  
    @ D,]v:  
    文件&技术信息 LD*XNcE  
    Uiv4'v Yg  
    G{.[o6>  
    DFkDlx  
    C: AD ZJL  
    QQ:2987619807 Z=9<esx  
     
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